接受标准是CPK≥1.67；参考文件是AEC Q100-001和AEC Q003；附加需求：在适当的时间间隔内完成对每个绑线点的验证 我们先看一下AEC Q100-001这个附件的内容：AEC Q100-001-REV-C WIRE BOND SHEAR TEST 介绍 适用范围 该测试建立了一个流程，用于确定在预封装或后封装器件上，金球键合和封装键合表面之间的界面强...
以下是AEC-Q100-001Rev-C中所包含的更改的摘要细节:➢第1.3.4.4节，类型-4芯片表面接触：修正后的措辞，以反映剪切工具接触芯片表面时的粘接剪切类型，而不是版本B中规定的粘接表面。➢增加了新的第1.3.5节，足迹：增加了“足迹”的新定义；更改了后续章节的数量，以反映所添加的内容。➢第3.6节b步...
01 什么是AEC-Q100 AEC-Q100是AEC的第一个标准,主要是针对车载应用的集成电路产品所设计出的一套应力测试标准,此规范对于提升产品信赖性品质保证相当重要。 AEC-Q100是预防可能发生各种状况或潜在的故障状态,对…
AEC-Q100-002 人体模式静电放电测试 AEC-Q100-004 集成电路闩锁效应测试 AEC-Q100-005 可写可擦除的永久性记忆的耐久性数据保持及工作寿命的测试 AEC-Q100-007 故障仿真和测试等级 AEC-Q100-008 早期寿命失效率(ELFR) AEC-Q100-009 电分配的评估 AEC-Q100-010 锡球剪切测试 AEC-Q100-011 带电器件模式的静电...
AEC-Q100-001 Rev-C: Wire Bond Shear Test,邦线切应力测试。 AEC-Q100-002 Rev-E: Human Body Model (HBM) Electrostatic Discharge Test人体模式静电放电测试。 AEC-Q100-003 Rev-E: Machine Model (MM) Electrostatic Discharge Test,[Decommissioned] 机械模式静电放电测试,已废止,因为JEDEC里面也给淘汰了。
由于最火热的芯片是目前全国甚至全世界的焦点,就先来看看关于芯片的测试标准。AEC-Q100一共分为13个子标准,分别是AEC-Q100主标准和从001到012的12个子标准。 三 ● 测试序列及测试内容 如同DV测试的序列和分类,芯片的测试认证一共包括7个序列,分别如下,而这七个序列的测试也是分别引用AEC-Q100中定义的那些测试方...
AEC-Q100-001 Rev-C: Wire Bond Shear Test,邦线切应力测试。 AEC-Q100-002 Rev-E: Human Body Model (HBM) Electrostatic Discharge Test人体模式静电放电测试。 AEC-Q100-003 Rev-E: Machine Model (MM) Electrostatic Discharge Test,[Decommissioned]机械模式静电放电测试,已废止,因为JEDEC里面也给淘汰了。
二●AEC-Q100的子标准 类似于一般汽车零部件的DV测试,AECQ标准其实也就是一种对芯片本身的设计认可的测试标准,分为不同的测试序列,对芯片进行不同维度的测试。 由于最火热的芯片是目前全国甚至全世界的焦点,就先来看看关于芯片的测试标准。AEC-Q100一共分为13个子标准,分别是AEC-Q100主标准和从001到012的12个子...
AEC - Q100-001 - REV-C October 8, 1998 Automotive Electronics Council Component Technical Committee ATTACHMENT 1 AEC - Q100-001 REV-C WIRE BOND SHEAR TEST AEC - Q100-001 - REV-C October 8, 1998 Automotive Electronics Council Component Technical Committee Acknowledgment Any document involving a ...
AEC-Q100-001 邦线切应力测试 AEC-Q100-002 人体模式静电放电测试 AEC-Q100-004 集成电路闩锁效应测试 AEC-Q100-005 可写可擦除的永久性记忆的耐久性数据保持及工作寿命的测试 AEC-Q100-007 故障仿真和测试等级 AEC-Q100-008 早期寿命失效率(ELFR)