AEC - Q100-006 - Rev-D - -电热诱导的寄生门漏电测试Electro-Thermally Induced Parasitic Gate Leakage Test.pdf 15页 内容提供方:请输入昵称 大小:98.8 KB 字数:约3.33万字 发布时间:2022-05-19发布于广东 浏览人气:88 下载次数:仅上传者可见 收藏次数:0 需要金币:*** 金币 (10金币=人民币1...
AEC_Q100-006_rev_D AEC - Q100-006 - REV-D July 18, 2003 Automotive Electronics Council Component Technical Committee ATTACHMENT 6 AEC - Q100-006 REV-D ELECTRO-THERMALLY INDUCED PARASITIC GATE LEAKAGE TEST (GL)
AEC-Q100-002 人体模式静电放电测试 AEC-Q100-003 机械模式静电放电测试 AEC-Q100-004 集成电路闩锁效应测试 AEC-Q100-005 可写可擦除的永久性记忆的耐久性、数据保持及工作寿命的测试 AEC-Q100-006 热电效应引起的寄生闸极漏电流测试 AEC-Q100-007 故障仿真和测试等级 AEC-Q100-008 早期寿命失效率(ELFR) AEC-...
6. AEC-Q100-006:基于机械应力的可靠性试验。 涵盖了多种机械应力试验,如振动试验、冲击试验等。在振动试验中,按照规定的振动频率和加速度幅值对器件进行振动,模拟汽车行驶过程中的振动环境。数据表明,一些封装结构设计不合理的器件在振动试验中容易出现引脚断裂、内部元件松动等问题。冲击试验则通过瞬间施加较大的冲击...
AEC-Q100-001 邦線切應力測試AEC-Q100-002 人體模式靜電放電測試AEC-Q100-003 機械模式靜電放電測試AEC-Q100-004 積體電路閂鎖效應測試AEC-Q100-005 可寫可擦除的永久性記憶的耐久性、資料保持及工作壽命的測試AEC-Q100-006 熱電效應引起的寄生閘極漏電流測試AEC-Q100-007 故障仿真和測試等級AEC-Q100-008 早期...
AEC-Q100-006 Rev-D: Electro-Thermally Induced Parasitic Gate Leakage Test (GL) [Decommissioned] 热电效应引起的寄生门极漏电流测试,已废止,因为认证测试不需要了(lack of need)。 AEC-Q100-007 Rev-B: Fault Simulation and Test Grading,故障仿真和测试等级。
AEC Q100-006 Electrothermally-Induced Gate Leakage 由于不需要将其作为资格试验项目而取消。 1.3 定义 1.3.1 AEC-Q100认证 如果根据本文件中列出的要求,并且成功完成各项测试内容,则允许供应商声称该芯片通过了“AEC Q100认证”。对于ESD,强烈建议在供应商规格书中指定通过电压,并需要在任何异常引脚上做脚注。
Q100-007: 故障模拟和测试分级 Q100-008:早期寿命失败率 Q100-009:配电评估 Q100-010: 焊球剪切试验 Q100-011: 带电器件模型 (CDM) 静电放电测试(新) Q100-012: 用于 12V 系统的智能功率器件的短路可靠性特性 (请注意,Q100-003 和 Q100-006 被省略,因为新的标准已经取代了它们。
5)AEC-Q100-005可写可擦除的永久性记忆的耐久性、资料保持及工作寿命的测试; 6)AEC-Q100-006热电效应引起的寄生闸极漏电流测试; 7)AEC-Q100-007故障仿真和测试等级; 8)AEC-Q100-008早期寿命失效率(ELFR); 9)AEC-Q100-009电分配评估; 10)AEC-Q100-010锡球剪切测试; ...
2 AEC-Q 006标准解读 AEC-Q006 是由 AEC 制定的一项针对汽车电子器件可靠性的标准， 旨在明确规定铜线键合器件的可靠性最低资格要求。 该标准涵盖了铜线器件在温度循环、 湿热应力和高温存储等条件下的可靠性测试要求。 与应用于金线键合器件的 AEC-Q100 和 AEC-Q101 标准相比， AEC-Q006 对铜线器件的可靠性试验...