AEC-Q100-006 Rev-D: Electro-Thermally Induced Parasitic Gate Leakage Test (GL) [Decommissioned] 热电效应引起的寄生门极漏电流测试,已废止,因为认证测试不需要了(lack of need)。 AEC-Q100-007 Rev-B: Fault Simulation and Test Grading,故障仿真和测试等级。 AEC-Q100-008 Rev-A: Early Life Failure R...
AEC-Q100-002 人体模式静电放电测试 AEC-Q100-003 机械模式静电放电测试 AEC-Q100-004 集成电路闩锁效应测试 AEC-Q100-005 可写可擦除的永久性记忆的耐久性、数据保持及工作寿命的测试 AEC-Q100-006 热电效应引起的寄生闸极漏电流测试 AEC-Q100-007 故障仿真和测试等级 AEC-Q100-008 早期寿命失效率(ELFR) AEC-...
Q100-005 可写可擦除的永久性记忆的耐久性、数据保持及工作寿命的测试 Q100-006 热电效应引起的寄生闸极漏电流测试 Q100-007 故障仿真和测试等级 Q100-008 早期寿命失效率 Q100-009 电分配的评估 Q100-010锡球剪切测试 Q100-011 带电器件模式的静电放电测试 Q100-012 12V 系统灵敏功率设备的短路可靠性描述 Q101-...
AEC - Q100-006 - Rev-D - -电热诱导的寄生门漏电测试Electro-Thermally Induced Parasitic Gate Leakage Test.pdf15页 内容提供方:请输入昵称 大小:98.8 KB 字数:约3.33万字 发布时间:2022-05-19发布于广东 浏览人气:81 下载次数:仅上传者可见 收藏次数:0 ...
AEC-Q100-006 Rev-D: Electro-Thermally Induced Parasitic Gate Leakage Test (GL) [Decommissioned] 热电效应引起的寄生门极漏电流测试,已废止,因为认证测试不需要了(lack of need)。 AEC-Q100-007 Rev-B: FaultSimulation and Test Grading,故障仿真和测试等级。
5)AEC-Q100-005可写可擦除的永久性记忆的耐久性、资料保持及工作寿命的测试; 6)AEC-Q100-006热电效应引起的寄生闸极漏电流测试; 7)AEC-Q100-007故障仿真和测试等级; 8)AEC-Q100-008早期寿命失效率(ELFR); 9)AEC-Q100-009电分配评估; 10)AEC-Q100-010锡球剪切测试; ...
AEC-Q200-006 端子应力(贴片元件)/切应力测试 AEC-Q200-007 电压浪涌测试 华碧实验室能力范围及AEC-Q100技术要求 华碧实验室能力范围及AEC-Q101技术要求 华碧能力范围及AEC-Q101技术范围 序号测试项目缩写检测方法 A组 加速环境应力测试ACCEL ERATED ENVIRONMENT STRESS TESTS ...
AEC_Q100-006_rev_D AEC - Q100-006 - REV-D July 18, 2003 Automotive Electronics Council Component Technical Committee ATTACHMENT 6 AEC - Q100-006 REV-D ELECTRO-THERMALLY INDUCED PARASITIC GATE LEAKAGE TEST (GL)
AEC-Q200-006 端子应力(贴片元件)/切应力测试 AEC-Q200-007 电压浪涌测试 华碧能力范围及AEC-Q100技术要求 华碧能力范围及AEC-Q101技术要求 华碧能力范围及AEC-Q101技术范围 序号 测试项目 缩写 检测方法 A组 加速环境应力测试 ACCEL ERATED ENVIRONMENT STRESS TESTS ...
AEC Q100-006 Electrothermally-Induced Gate Leakage 由于不需要将其作为资格试验项目而取消。 1.3 定义 1.3.1 AEC-Q100认证 如果根据本文件中列出的要求,并且成功完成各项测试内容,则允许供应商声称该芯片通过了“AEC Q100认证”。对于ESD,强烈建议在供应商规格书中指定通过电压,并需要在任何异常引脚上做脚注。