温度范围 关于温度范围这块儿,比起Q100针对芯片区分了4档温度范围、最高才150度,Q101标准简单粗暴,规定最低温度范围就是-40度～+125度,你可以高,但不能低。 AEC-Q200标准 Q200标准是用于被动器件的,标准全称:StressTestQualificationForPassiveComponents,被动器件应力测试认证,这个名字比Q100和101短多了。现在的RevD...
AEC-Q100-011 带电器件模式的静电放电测试 AEC-Q100-012 12V系统灵敏功率设备的短路可靠性描述 AEC-Q101 离散组件应力测试(Stress Test)的认证规范 AEC-Q101-001 人体模式静电放电测试 AEC-Q101-003 邦线切应力测试 AEC-Q101-004 同步性测试方法 AEC-Q101-005 带电器件模式的静电放电测试 AEC-Q101-006 12V系统...
AEC-Q100-006 Rev-D: Electro-Thermally Induced Parasitic Gate Leakage Test (GL) [Decommissioned] 热电效应引起的寄生门极漏电流测试,已废止,因为认证测试不需要了(lack of need)。 AEC-Q100-007 Rev-B: FaultSimulation and Test Grading,故障仿真和测试等级。 AEC-Q100-008 Rev-A: Early Life Failure Rat...
AEC-Q100-002 人体模式静电放电测试 AEC-Q100-003 机械模式静电放电测试 AEC-Q100-004 集成电路闩锁效应测试 AEC-Q100-005 可写可擦除的永久性记忆的耐久性、数据保持及工作寿命的测试 AEC-Q100-006 热电效应引起的寄生闸极漏电流测试 AEC-Q100-007 故障仿真和测试等级 AEC-Q100-008 早期寿命失效率(ELFR) AEC-...
Q100-001邦线切应力测试 Q100-002人体模式静电放电测试 Q100-003 机械模式静电放电测试 Q100-004 集成电路闩锁效应测试 Q100-005 可写可擦除的永久性记忆的耐久性、数据保持及工作寿命的测试 Q100-006 热电效应引起的寄生闸极漏电流测试 Q100-007 故障仿真和测试等级 ...
AEC - Q100-006 - Rev-D - -电热诱导的寄生门漏电测试Electro-Thermally Induced Parasitic Gate Leakage Test.pdf15页 内容提供方:请输入昵称 大小:98.8 KB 字数:约3.33万字 发布时间:2022-05-19发布于广东 浏览人气:81 下载次数:仅上传者可见 收藏次数:0 ...
AEC-Q100-001邦线切应力测试 AEC-Q100-002人体模式静电放电测试 AEC-Q100-003机械模式静电放电测试 AEC-Q100-004集成电路闩锁效应测试 AEC-Q100-005可写可擦除的永久性记忆的耐久性、数据保持及工作寿命的测试 AEC-Q100-006热电效应引起的寄生闸极漏电流测试 ...
AEC-Q200-006 端子应力(贴片元件)/切应力测试 AEC-Q200-007 电压浪涌测试 华碧能力范围及AEC-Q100技术要求 华碧能力范围及AEC-Q101技术要求 华碧能力范围及AEC-Q101技术范围 序号 测试项目 缩写 检测方法 A组 加速环境应力测试 ACCEL ERATED ENVIRONMENT STRESS TESTS ...
6)AEC-Q100-006热电效应引起的寄生闸极漏电流测试; 7)AEC-Q100-007故障仿真和测试等级; 8)AEC-Q100-008早期寿命失效率(ELFR); 9)AEC-Q100-009电分配评估; 10)AEC-Q100-010锡球剪切测试; 11)AEC-Q100-011带电器件模式的静电放电测试; 12)AEC-Q100-012,12V系统灵敏功率设备的短路可靠性描述。
AEC_Q100-006_rev_D AEC - Q100-006 - REV-D July 18, 2003 Automotive Electronics Council Component Technical Committee ATTACHMENT 6 AEC - Q100-006 REV-D ELECTRO-THERMALLY INDUCED PARASITIC GATE LEAKAGE TEST (GL)