AEC Q100-006 Electrothermally-Induced Gate Leakage 由于不需要将其作为资格试验项目而取消。 1.3 定义 1.3.1 AEC-Q100认证 如果根据本文件中列出的要求,并且成功完成各项测试内容,则允许供应商声称该芯片通过了“AEC Q100认证”。对于ESD,强烈建议在供应商规格书中指定通过电压,并需要在任何异常引脚上做脚注。
AEC_Q100-006_rev_D AEC - Q100-006 - REV-D July 18, 2003 Automotive Electronics Council Component Technical Committee ATTACHMENT 6 AEC - Q100-006 REV-D ELECTRO-THERMALLY INDUCED PARASITIC GATE LEAKAGE TEST (GL)
AEC-Q100-002 人体模式静电放电测试 AEC-Q100-003 机械模式静电放电测试 AEC-Q100-004 集成电路闩锁效应测试 AEC-Q100-005 可写可擦除的永久性记忆的耐久性、数据保持及工作寿命的测试 AEC-Q100-006 热电效应引起的寄生闸极漏电流测试 AEC-Q100-007 故障仿真和测试等级 AEC-Q100-008 早期寿命失效率(ELFR) AEC-...
AEC - Q100-006 - Rev-D - -电热诱导的寄生门漏电测试Electro-Thermally Induced Parasitic Gate Leakage Test.pdf 15页 内容提供方:请输入昵称 大小:98.8 KB 字数:约3.33万字 发布时间:2022-05-19发布于广东 浏览人气:88 下载次数:仅上传者可见 收藏次数:0 需要金币:*** 金币 (10金币=人民币1...
AEC Q100-006 Electrothermally-Induced Gate Leakage 由于不需要将其作为资格试验项目而取消。 1.3 定义 1.3.1 AEC-Q100认证 如果根据本文件中列出的要求,并且成功完成各项测试内容,则允许供应商声称该芯片通过了“AEC Q100认证”。对于ESD,强烈建议在供应商规格书中指定通过电压,并需要在任何异常引脚上做脚注。然后...
6. AEC-Q100-006:基于机械应力的可靠性试验。 涵盖了多种机械应力试验,如振动试验、冲击试验等。在振动试验中,按照规定的振动频率和加速度幅值对器件进行振动,模拟汽车行驶过程中的振动环境。数据表明,一些封装结构设计不合理的器件在振动试验中容易出现引脚断裂、内部元件松动等问题。冲击试验则通过瞬间施加较大的冲击...
AEC_Q100-010_rev_A AEC_Q100-011_rev_B AEC_Q200-004 AEC_Q200-005 AEC_Q200-006 AEC_Q200-007 AEC_Q101-004 AEC_Q101-005 AEC_Q101-0061/2 相关文档推荐 AEC_Q100-002_rev_D 15页 5财富值 AEC_Q100_Rev_G 36页 5财富值 AEC_Q100-005_rev_C 10页 5财富值 AEC_Q100-004_rev_C 6页 5财...
关于温度范围这块儿,比起Q100针对芯片区分了4档温度范围、最高才150度,Q101标准简单粗暴,规定最低温度范围就是-40度～+125度,你可以高,但不能低。 AEC-Q200标准 Q200标准是用于被动器件的,标准全称:StressTestQualificationForPassiveComponents,被动器件应力测试认证,这个名字比Q100和101短多了。现在的RevD版本是2010...
Q100-007: 故障模拟和测试分级 Q100-008:早期寿命失败率 Q100-009:配电评估 Q100-010: 焊球剪切试验 Q100-011: 带电器件模型 (CDM) 静电放电测试(新) Q100-012: 用于 12V 系统的智能功率器件的短路可靠性特性 (请注意,Q100-003 和 Q100-006 被省略,因为新的标准已经取代了它们。
AEC-Q200-006 端子应力(贴片元件)/切应力测试 AEC-Q200-007 电压浪涌测试 华碧能力范围及AEC-Q100技术要求 华碧能力范围及AEC-Q101技术要求 华碧能力范围及AEC-Q101技术范围 序号 测试项目 缩写 检测方法 A组 加速环境应力测试 ACCEL ERATED ENVIRONMENT STRESS TESTS ...