AEC - Q100-004 - REV-D August 7, 2012 Automotive Electronics Council Component Technical Committee ATTACHMENT 4 AEC - Q100-004 REV-D IC LATCH-UP TEST AEC - Q100-004 - REV-D August 7, 2012 Automotive Electronics Council Component Technical Committee Acknowledgment Any document involving a ...
AEC Q100-004 REV-D IC LATCH-UP TEST 在AEC Q100认证的IC器件上进行的所有栓锁测试都应符合最新版本的JEDEC EIA/JESD78规范，并具有以下说明和要求(后面列出的节号对应于JEDEC规范)。执行JEDEC - II等级认证 所有AEC Q100-004认证测试都应在被测器件的最高环境工作温度(JEDEC - II类)下进行。闩锁测试流程介...
AEC-Q100-002 人体模式静电放电测试 AEC-Q100-003 机械模式静电放电测试 AEC-Q100-004 集成电路闩锁效应测试 AEC-Q100-005 可写可擦除的永久性记忆的耐久性、数据保持及工作寿命的测试 AEC-Q100-006 热电效应引起的寄生闸极漏电流测试 AEC-Q100-007 故障仿真和测试等级 AEC-Q100-008 早期寿命失效率(ELFR) AEC-...
AEC_Q100-006D Electro-Thermally Induced Parasitic Gate Leakage Test (GL) 热度: AEC_Q100-007B Fault Simulation and Test Grading 热度: AEC-Q100-004-REV-C October8,1998 ComponentTechnicalCommittee AutomotiveElectronicsCouncil ATTACHMENT4 AEC-Q100-004REV-C ...
随着汽车电子技术的进步,如今的汽车里都有很多繁复的数据管理控制系统,车用电子零件分为三大类别,包含IC、离散半导体、被动组件三大类别,为了确保这些汽车电子零组件符合汽车安全的最高标准,美国汽车电子协会(AEC)系以主动零件为目标所设计出的一套标准 [AEC-Q100]、针对被动组件设计为[[AEC-Q200],其规范了被动零件...
AEC_Q100-004_rev_C AEC - Q100-004 - REV-C October 8, 1998 Automotive Electronics Council Component Technical Committee ATTACHMENT 4 AEC - Q100-004 REV-C IC LATCH-UP TEST
AEC - Q100-004 - REV-D August 7, 2012 Automotive Electronics Council Component Technical Committee ATTACHMENT 4 AEC - Q100-004 REV-D IC LATCH-UP TEST AEC - Q100-004 - REV-D August 7, 2012 Automotive Electronics Council Component Technical Committee Acknowledgment Any document involving a ...
答:AEC-Q100 是一个顶级标准,然后“爆发”为许多具体、定义明确、承诺的子标准: Q100-001: 引线键合剪切试验 Q100-002: 人体模型静电放电测试 Q100-004: IC 闩锁效应测试 Q100-005:非易失性存储器编程/擦除耐久性、数据保留和工作寿命测试 Q100-007: 故障模拟和测试分级 ...
AEC-Q100 芯片应力测试(Stress Test)的认证规范 AEC-Q100-001 邦线切应力测试 AEC-Q100-002 人体模式静电放电测试 AEC-Q100-004 集成电路闩锁效应测试 AEC-Q100-005 可写可擦除的永久性记忆的耐久性数据保持及工作寿命的测试 AEC-Q100-007 故障仿真和测试等级 ...
AEC-Q100-001 邦線切應力測試AEC-Q100-002 人體模式靜電放電測試AEC-Q100-003 機械模式靜電放電測試AEC-Q100-004 積體電路閂鎖效應測試AEC-Q100-005 可寫可擦除的永久性記憶的耐久性、資料保持及工作壽命的測試AEC-Q100-006 熱電效應引起的寄生閘極漏電流測試AEC-Q100-007 故障仿真和測試等級AEC-Q100-008 早期...