AEC - Q100-004 - REV-D August 7, 2012 Automotive Electronics Council Component Technical Committee ATTACHMENT 4 AEC - Q100-004 REV-D IC LATCH-UP TEST AEC - Q100-004 - REV-D August 7, 2012 Automotive Electronics Council Component Technical Committee Acknowledgment Any document involving a ...
AEC Q100-004 REV-D IC LATCH-UP TEST 在AEC Q100认证的IC器件上进行的所有栓锁测试都应符合最新版本的JEDEC EIA/JESD78规范，并具有以下说明和要求(后面列出的节号对应于JEDEC规范)。执行JEDEC - II等级认证 所有AEC Q100-004认证测试都应在被测器件的最高环境工作温度(JEDEC - II类)下进行。闩锁测试流程介...
AEC-Q100-002 人体模式静电放电测试 AEC-Q100-003 机械模式静电放电测试 AEC-Q100-004 集成电路闩锁效应测试 AEC-Q100-005 可写可擦除的永久性记忆的耐久性、数据保持及工作寿命的测试 AEC-Q100-006 热电效应引起的寄生闸极漏电流测试 AEC-Q100-007 故障仿真和测试等级 AEC-Q100-008 早期寿命失效率(ELFR) AEC-...
ELFR:早期寿命失效率 (AEC-Q100-008): 通过这项应力测试的器件可以用在其他应力测试上,通用数据可以使用,ELFR前后的测试是在高温条件下进行。 华碧能力范围及AEC-100技术要求 华碧实验室
AEC_Q100-004_rev_C AEC - Q100-004 - REV-C October 8, 1998 Automotive Electronics Council Component Technical Committee ATTACHMENT 4 AEC - Q100-004 REV-C IC LATCH-UP TEST
AEC-Q100-001 邦线切应力测试 AEC-Q100-002 人体模式静电放电测试 AEC-Q100-004 集成电路闩锁效应测试 AEC-Q100-005 可写可擦除的永久性记忆的耐久性数据保持及工作寿命的测试 AEC-Q100-007 故障仿真和测试等级 AEC-Q100-008 早期寿命失效率(ELFR)
AEC_Q100-006D Electro-Thermally Induced Parasitic Gate Leakage Test (GL) 热度: AEC_Q100-007B Fault Simulation and Test Grading 热度: AEC-Q100-004-REV-C October8,1998 ComponentTechnicalCommittee AutomotiveElectronicsCouncil ATTACHMENT4 AEC-Q100-004REV-C ...
AEC - Q100-004 - REV-D August 7, 2012 Automotive Electronics Council Component Technical Committee ATTACHMENT 4 AEC - Q100-004 REV-D IC LATCH-UP TEST AEC - Q100-004 - REV-D August 7, 2012 Automotive Electronics Council Component Technical Committee Acknowledgment Any document involving a ...
答:AEC-Q100 是一个顶级标准,然后“爆发”为许多具体、定义明确、承诺的子标准: Q100-001: 引线键合剪切试验 Q100-002: 人体模型静电放电测试 Q100-004: IC 闩锁效应测试 Q100-005:非易失性存储器编程/擦除耐久性、数据保留和工作寿命测试 Q100-007: 故障模拟和测试分级 ...
Q100-002:人体模型静电放电测试 Q100-004:IC 闩锁测试 Q100-005:非易失性存储器编程/擦除耐久性、数据保留和使用寿命测试 Q100-007:故障模拟和测试分级 Q100-008:早期故障率 Q100-009:配电评估 Q100-010:焊球剪切测试 Q100-011:带电器件模型 (CDM) 静电放电测试(新) ...