AEC-Q100标准包含多个子标准,具体如下: 1. AEC-Q100-001:总则。 此子标准为整个AEC-Q100标准体系奠定基础,明确了适用范围、定义、一般要求等关键内容。它规定了该标准所涵盖的半导体器件类型,包括但不限于集成电路、分立器件等,适用于汽车电子应用中使用的各类半导体元件 。 2. AEC-Q100-002:失效模式与效应分析(...
接受标准是CPK≥1.67；参考文件是AEC Q100-001和AEC Q003；附加需求：在适当的时间间隔内完成对每个绑线点的验证 我们先看一下AEC Q100-001这个附件的内容：AEC Q100-001-REV-C WIRE BOND SHEAR TEST 介绍 适用范围 该测试建立了一个流程，用于确定在预封装或后封装器件上，金球键合和封装键合表面之间的界面强...
AEC-Q100-001 邦线切应力测试 AEC-Q100-002 人体模式静电放电测试 AEC-Q100-003 机械模式静电放电测试 AEC-Q100-004 集成电路闩锁效应测试 AEC-Q100-005 可写可擦除的永久性记忆的耐久性、数据保持及工作寿命的测试 AEC-Q100-006 热电效应引起的寄生闸极漏电流测试 AEC-Q100-007 故障仿真和测试等级 AEC-Q100-...
通过AEC Q100中表2信息,可以看出F组仅有两项内容,PAT和SBA,是Fab制造环节和电性能测试都需要进行的内容,通过后续的详细解读,我们会发现PAT和SBA实际上是一种测试统计方式,而不是一项具体的测试验证内容。 表格2中PAT给出的信息如下: Process Average Testing编号为F1,参考文件为AEC Q001,是AEC系列文件的第一个附...
不管是投标还是占领市场,要想尽早进入汽车领域并且立足,AEC-Q100系列认证都将会是车规芯片认证的首选。➤ 附上认证规范AEC-Q100-001 邦线切应力测试;AEC-Q100-002 人体模式静电放电测试;AEC-Q100-004 集成电路闩锁效应测试;AEC-Q100-005 可写可擦除的永久性记忆的耐久性数据保持及工作寿命的测试;AEC-Q100-007 ...
AEC - Q100-001 - REV-C October 8, 1998 Automotive Electronics Council Component Technical Committee ATTACHMENT 1 AEC - Q100-001 REV-C WIRE BOND SHEAR TEST AEC - Q100-001 - REV-C October 8, 1998 Automotive Electronics Council Component Technical Committee Acknowledgment Any document involving a ...
答:AEC-Q100 是一个顶级标准,然后“爆发”为许多具体、定义明确、承诺的子标准: Q100-001: 引线键合剪切试验 Q100-002: 人体模型静电放电测试 Q100-004: IC 闩锁效应测试 Q100-005:非易失性存储器编程/擦除耐久性、数据保留和工作寿命测试 Q100-007: 故障模拟和测试分级 ...
6、AEC Q100压力子测试项 有源元件和无源元件以及多芯片模块 (MCM) 均存在单独的标准。Q100 中有长期存在的子测试项,定义压力测试和其他评估。这些包括: Q100-001:引线键合剪切测试 Q100-002:人体模型静电放电测试 Q100-004:IC 闩锁测试 Q100-005:非易失性存储器编程/擦除耐久性、数据保留和使用寿命测试 ...
MCU供应商在进入OEM的供应链体系前,一般需要完成三大认证:设计阶段要遵循功能安全标准 ISO 26262,流片和封装阶段要遵循AEC-Q001~004和IATF16949,以及在认证测试阶段要遵循AEC-Q100/Q104。 其中,ISO 26262定义了ASIL四个安全等级,从低到高分别为A、B、C和D;AEC-Q100 分为四个可靠性等级,从低到高分别为 3、2...
二●AEC-Q100的子标准 类似于一般汽车零部件的DV测试,AECQ标准其实也就是一种对芯片本身的设计认可的测试标准,分为不同的测试序列,对芯片进行不同维度的测试。 由于最火热的芯片是目前全国甚至全世界的焦点,就先来看看关于芯片的测试标准。AEC-Q100一共分为13个子标准,分别是AEC-Q100主标准和从001到012的12个子...