➤ 附上认证规范AEC-Q100-001 邦线切应力测试;AEC-Q100-002 人体模式静电放电测试;AEC-Q100-004 集成电路闩锁效应测试;AEC-Q100-005 可写可擦除的永久性记忆的耐久性数据保持及工作寿命的测试;AEC-Q100-007 故障仿真和测试等级;AEC-Q100-008 早期寿命失效率(ELFR);AEC-Q100-009 电分配的评估;AEC-Q100-010...
我们先来看一下标准的全称:FailureMechanismBasedStressTestQualificationForIntegratedCircuits,基于集成电路应力测试认证的失效机理,名字有点长,所以一般就叫“集成电路的应力测试标准”。集成电路应该算是用得最多的,大家也最关注的,所以我们就把Q100讲得详细一点。Q100除主标准(basedocument)外,还有12个分标准,从001到01...
接受标准是CPK≥1.67；参考文件是AEC Q100-001和AEC Q003；附加需求：在适当的时间间隔内完成对每个绑线点的验证 我们先看一下AEC Q100-001这个附件的内容：AEC Q100-001-REV-C WIRE BOND SHEAR TEST 介绍 适用范围 该测试建立了一个流程，用于确定在预封装或后封装器件上，金球键合和封装键合表面之间的界面强...
AEC-Q101-001 人体模式静电放电测试 AEC-Q101-003 邦线切应力测试 AEC-Q101-004 同步性测试方法 AEC-Q101-005 带电器件模式的静电放电测试 AEC-Q101-006 12V系统灵敏功率设备的短路可靠性描述 AEC-Q102 车用分立光电半导体元器件可靠性验证测试 AEC-Q102-001 露水测试 AEC-Q102-002 电路板柔性测试 AEC-Q102...
AEC-Q100-001 邦线切应力测试 AEC-Q100-002 人体模式静电放电测试 AEC-Q100-003 机械模式静电放电测试 AEC-Q100-004 集成电路闩锁效应测试 AEC-Q100-005 可写可擦除的永久性记忆的耐久性、数据保持及工作寿命的测试 AEC-Q100-006 热电效应引起的寄生闸极漏电流测试 ...
Process Average Testing编号为F1,参考文件为AEC Q001,是AEC系列文件的第一个附件。 附件需求: 供应商根据测试方法确定样品数量和接受标准。如果对给定的零件不能进行这些测试内容,供应商必须提供证明。如果供应商要对PAT和SBA方法进行更新并应用,比如要符合此项指导方针的原则。 让我们来看一下AEC Q001文件: AEC ...
AEC-Q200-001 Rev-B: 阻燃性能测试 AEC-Q200-002 Rev-B: HBM ESD,人体模型静电测试 AEC-Q200-003 Rev-B: 断裂强度测试 AEC-Q200-004 Rev-A: 可恢复保险丝测试。 AEC-Q200-005 Rev-A: 板弯曲/端子邦线应力测试。 AEC-Q200-006 Rev-A: 端子应力(SMD贴片元件)/切应力测试。
类似于一般汽车零部件的DV测试,AECQ标准其实也就是一种对芯片本身的设计认可的测试标准,分为不同的测试序列,对芯片进行不同维度的测试。 由于最火热的芯片是目前全国甚至全世界的焦点,就先来看看关于芯片的测试标准。AEC-Q100一共分为13个子标准,分别是AEC-Q100主标准和从001到012的12个子标准。
由于最火热的芯片是目前全国甚至全世界的焦点,就先来看看关于芯片的测试标准。AEC-Q100一共分为13个子标准,分别是AEC-Q100主标准和从001到012的12个子标准。 三 ● 测试序列及测试内容 如同DV测试的序列和分类,芯片的测试认证一共包括7个序列,分别如下,而这七个序列的测试也是分别引用AEC-Q100中定义的那些测试方...
由于最火热的芯片是目前全国甚至全世界的焦点,就先来看看关于芯片的测试标准。AEC-Q100一共分为13个子标准,分别是AEC-Q100主标准和从001到012的12个子标准。 三 ● 测试序列及测试内容 如同DV测试的序列和分类,芯片的测试认证一共包括7个序列,分别如下,而这七个序列的测试也是分别引用AEC-Q100中定义的那些测试方...