俄歇电子强度除与原子的浓度有关外,还与样品表面的光洁度、元素存在的化学状态以及仪器的状态(谱仪对不同能量的俄歇电子的传输效率不同)有关,谱仪的污染程度、样品表面的C和O的污染、吸附物的存在、激发源能量的不同均影响定量分析结果,所...
每种元素都有唯一的一套能级,XPS技术通过测定谱中不同元素的结合能来进行元素组成的鉴别,对于化学组成不确定的样品,应作全谱扫描以初步判定表面的全部或大部分化学元素。 一般情况下,首先鉴别普遍存在元素的谱线,特别是C和O的谱线;其次,鉴别样品中主要元素的强谱线和有关的次强谱线;最后,鉴别剩余的弱谱线。 如果...
对这个东西测试了XPS，分峰图中出现Si-O-C的峰，原本以为是PDMS的-OH与淀粉的活性-OH脱水反应 但是...
图3 XPS线扫所得Si 2p谱图,说明共聚物层超薄,是纳米级别 图4 样品两端的C 1s谱图 Si 2p的谱图不随分析位置而改变,但是C 1s谱图随分析位置而变化,一端是1,7辛二烯末端的烃,另一端含有C-O和O=C-O,证明了共聚物的组成与图一预期相符。 图5 不同元素的原子百分比随分析位置的变化 不同元素的原子百分比...
结果表明,芸豆的子叶主要是由C、O、N 元素组成。黑芸豆子叶中氧碳物质的量比( nO /nC) 最高,为0.26。芸豆的种皮除了有C、O、N 还有Si、Ca、Zn 元素,Si、Ca和Zn的含量超过子叶中的含量,花芸豆种皮氧碳物质的量比最高,为0.22。红芸豆、白芸豆和花芸豆的子叶和种皮中的碳有 C-C( 或 C-H)、C-O( ...
2013-06-18 C-C键,C-H键,C-O键的键长,键能各是多少? 9 2015-02-20 某化合物有碳、氢、氧三种元素组成,其红外光谱图有C-H键、O... 2 2012-04-18 为什么Si—O键能比C—C键键能大,但是SiO2的熔点却比金... 5 2018-05-15 有机化学中C-H键、C=O键等等,中的C是多少价 5 2015-02-08...
而在损伤点,表面的C,O含量很高,而Si, N元素的含量却比较低;c. 说明在损伤区发生了Si3N4薄膜的分解。(2)线扫描分析俄歇线扫描线扫描分析可以在微观和宏观的范围内进行(1～6000微米),可以了解一些元素沿某一方向的分布情况。横坐标为线扫描宽度,纵坐标为元素的信号强度(3)面扫描:元素面分布分析可以把某个元素...
C 1s峰通常对应于石墨烯表面的碳原子,其能量范围为280-290 eV。石墨烯的C 1s峰常常会出现两个不同位置的分峰,分别对应于sp2杂化碳原子和sp3杂化碳原子。 2. O 1s峰:石墨烯XPS光谱中的O 1s峰通常来自于石墨烯表面的氧化物或含氧功能化基团。该峰通常出现在530-540 eV能量范围内。 3. Si 2p峰:如果石墨...
对样品代表性点进行数据采集,发现样品表面除了C元素以外还含有大量的O元素,以及微量的S、N、Na、Si、Cl元素。为了对2#样品C元素进行更加准确的化学态表征,采用1#样品碳元素作参考,进而判断出2#样品除了sp2杂化碳外还含有C-C、C-O以及C=O化学态的碳(如图3所示)。
(2)鉴别总是存在的元素谱线,如C、O的谱线; (3)鉴别样品中主要元素的强谱线和有关的次强谱线; (4)鉴别剩余的弱谱线假设它们是未知元素的最强谱线。 自旋-轨道分裂(SOS) 由于电子的轨道运动和自旋运动发生耦合后使轨道能级发生分裂。对于l>0的内壳层来说,用内量子数j(j=|l± ms|)表示自旋轨道分裂。即若...