图2 XPS线扫的方向 图3 XPS线扫所得Si 2p谱图,说明共聚物层超薄,是纳米级别 图4 样品两端的C 1s谱图 Si 2p的谱图不随分析位置而改变,但是C 1s谱图随分析位置而变化,一端是1,7辛二烯末端的烃,另一端含有C-O和O=C-O,证明了共聚物的组成与图一预期相符。 图5 不同元素的原子百分比随分析位置的变化...
图2 XPS线扫的方向 图3 XPS线扫所得Si 2p谱图,说明共聚物层超薄,是纳米级别 图4 样品两端的C 1s谱图 Si 2p的谱图不随分析位置而改变,但是C 1s谱图随分析位置而变化,一端是1,7辛二烯末端的烃,另一端含有C-O和O=C-O,证明了共聚物的组成与图一预期相符。 图5 不同元素的原子百分比随分析位置的变化...
图2 XPS线扫的方向 图3 XPS线扫所得Si 2p谱图,说明共聚物层超薄,是纳米级别 图4 样品两端的C 1s谱图 Si 2p的谱图不随分析位置而改变,但是C 1s谱图随分析位置而变化,一端是1,7辛二烯末端的烃,另一端含有C-O和O=C-O,证明了共聚物的组成与图一预期相符。 图5 不同元素的原子百分比随分析位置的变化...
而Birol Ozturk等人首次将VI族元素(O)可调地结合到蜂窝状sp2型2D-BNC晶格中,制备出原子级厚度的硼,氮,碳,氧合金2D-BNCO,以XPS证明了氧原子主要与B,N,C键合,而基本不与基底结合。由于XPS光束尺寸比合成的2D-BNCO域大的多,无法获得单个BNCO域的XPS(即XPS信息包含BNCO域和BNC基材),他们创造性地将每种类型的...
但是，根据别人文献的报道，道康宁的PDMS是乙烯基封端的，也就是说没有-OH，那么Si-O-C的键是如何...
如同一价态的W4f7和W4f5之间的距离为2.15eV左右,Si2p3和Si2p1差值为1.1eV左右,具体化学状态下能级分裂的两个轨道之间的距离会有不同。 C.对于同一元素的分裂轨道,其半峰宽应该尽量接近一致。对于同一仪器及仪器参数,各数据的GL高斯-洛伦兹比应保持一致(可直接采用默认值80)。 此处,可通过调节峰置、半峰宽和峰...
图3 XPS线扫所得Si 2p谱图,说明共聚物层超薄,是纳米级别 图4 样品两端的C 1s谱图 Si 2p的谱图不随分析位置而改变,但是C 1s谱图随分析位置而变化,一端是1,7辛二烯末端的烃,另一端含有C-O和O=C-O,证明了共聚物的组成与图一预期相符。 图5 不同元素的原子百分比随分析位置的变化 ...
图3 XPS线扫所得Si 2p谱图,说明共聚物层超薄,是纳米级别 图4 样品两端的C 1s谱图 Si 2p的谱图不随分析位置而改变,但是C 1s谱图随分析位置而变化,一端是1,7辛二烯末端的烃,另一端含有C-O和O=C-O,证明了共聚物的组成与图一预期相符。 图5 不同元素的原子百分比随分析位置的变化 ...
聚对苯二甲酸乙二醇酯(PET)的标准物质,具有典型的化学状态峰位,可以利用X射线光电子能谱峰鉴别各种化学键,其化学式为: 由于XPS图谱中各元素的分立性较强,因此可以在1次宽扫描中检测出样品含有的全部或极大多数元素。 由全谱宽扫描图(下图)知,...
SN@C/SiOx复合材料具有高比表面积,SiOx颗粒均匀分布在S/N掺杂的C基体中。S/N掺杂的C基体不仅提高了导电性,阻碍了颗粒的凝集,而且缓冲了SiOx的体积变化,提高了电化学性能。 图2.(a)S7/3的(b)C1s,(c)O1s,(d)S2p,(e)N1s和(f)Si2p的XPS光谱XPS测量光谱和高分辨率 ...