二次离子质谱(Secondary Ion Mass Spectrometry,SIMS)是一种用于研究固体表面的技术,通过用聚焦的一次离子束溅射样品表面,并分析喷出的二次离子(如下图)。通过测量二次离子的质量来识别二次离子,从而确定表面的元素、同位素和/或分子组成。 SIMS仪器由以下基本元素...
TOF-SIMS,飞行时间二次离子质谱,也叫静态二次离子质谱,是飞行时间和二次离子质谱结合的一种新的表面分析技术。TOF-SIMS结合了飞行时间和二次离子质谱的优点,具有高分辨、高灵敏度、精确质量测定等性能,是目前高技术领域广泛使用的分析技术。 飞行时间二次离子质谱是非常灵敏的表面分析手段。飞行时间二次离子质谱凭借质...
飞行时间二次离子质谱法(ToF SIMS)是一种用于研究固体表面和薄膜的三维化学组成的表面分析技术。 聚焦的一次离子束轰击目标表面,产生中性原子/分子、二次离子和电子。二次离子通过飞行时间质谱仪进行收集和分析。质谱仪通过精确测量离子到达探测器所需的时间(即“飞行时间”)来测量离子的质荷比(m/z)。 通过扫描一次...
包括如半导体,医药,生物,冶金,汽车等领域。 设备仪器 型号:TOF-SIMS5 参数:质量分辨率:29Si>12000,在m/z>200附近可以达17000以上;检测极限:ppm~ ppb级;质量范围:~12000;检测范围:所有元素(含H、He)及同位素;横向分辨率<70nm, 深度分辨率<1nm 应用:谱图检测、化学成分成像及深度剖析测试,可应用于分析有机、...
飞行时间二次离子质谱仪（TOF-SIMS）是一种先进的分析工具，专用于材料表面和表层的化学成分分析。其原理基于一次离子束对样品的稳定轰击，引发粒子溅射，生成二次离子，通过质谱分离收集并分析。一次离子束在样品表面的轰击过程中，会产生一系列物理和化学反应，包括粒子溅射、晶格畸变以及表面化学反应等。溅...
仪器型号2:PHI Nanotof 样品要求 深度剖析一般是块体样品;粉末一般做质谱或者面扫,液体,生物细胞等样品可以冷冻干燥后测试,设备无法直接测试液体样品。 常见问题 1. 质谱测试正负离子模式是什么? TOF-SIMS是采用初级离子源(Bi源)入射样品的表面激发出材料里的离子,通常给样品加不同偏压分别采集正离子或负离子,金属...
三、TOF-SIMS在刑侦科学中的应用 在刑侦科学中,TOF-SIMS被用于指纹残留物的化学成像,通过其成像方式分析指纹,可以获得比传统方式更精细的形貌信息,以及指纹上物质化学成分的分布信息。这种技术可以用于破案和鉴定,对于一些无法通过传统指纹识别方法鉴定的案件,TOF-SIMS可以提供更为准确的证据。 总之,TOF-SIMS是一种非常...
TOF-SIMS是SMART图谱的一部分,是一种对表面非常敏感的技术,可提供全面的元素和分子分析,具有出色的检测限 典型数据 氟碳膜显示硅污染清洁全氟碳膜,不含硅 污染硅晶圆上铁(Fe)的高质量分辨率光谱与清洁硅晶圆的比较 平板显示器上残留物的TOF-SIMS离子图像(150微米视野) ...
仪器描述 仪器简介: 飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)是一种非常灵敏的表面分析技术。可以广泛应用于物理,化学,微电子,生物,制药,空间分析等工业和研究方面。TOF-SIMS可以提供表面,薄膜,界面以至于三维样品的元素,分子等结构信息。 技术参数: . 并行探测所有离子,包括有机和无机分子碎片。