TOF-SIMS,飞行时间二次离子质谱,也叫静态二次离子质谱,是飞行时间和二次离子质谱结合的一种新的表面分析技术。TOF-SIMS结合了飞行时间和二次离子质谱的优点,具有高分辨、高灵敏度、精确质量测定等性能,是目前高技术领域广泛使用的分析技术。 飞行时间二次离子质谱是非常灵敏的表面分析手段。飞行时间二次离子质谱凭借质...
Tofsims是飞行时间二次离子质谱,飞行时间二次离子质谱仪已经发展成为一个强大的微观表面分析应用技术。该技术可应用在传统动态SIMS不能应用的领域,具有以下优点:可以在一个几乎无限制的质量范围内同步检测不同的离子;具有很高的高质量分辨率;达到精确质量测定,准确离子传输;分析样品表面的无机和有机污染物,同时具有微米和...
TOF-SIMS(Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry)技术是一种高分辨率表面成分分析的方法。它通过将样本表面轰击成离子,并利用飞行时间质谱仪测量这些离子的时间和质量,从而确定样本的成分及其分布情况。TOF-SIMS技术不仅可以提供元素分析信息,还可以提供离子组成分析、分子成像等详细数据。 TOF-SIMS技术在负极表面...
TOF-SIMS(Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry)是通过用一次离子激发样品表面,打出极其微量的二次离子,根据二次离子因不同的质量而飞行到探测器的时间不同来测定离子质量的极高分辨率的测量技术。 TOF-SIMS具有极高分辨率,可以提供表面,薄膜,界面以至于三维样品的元素、分子等结构信息,其特点在二次离子来...
TOF-SIMS是一种有效的表面分析手段,能检测氢在内的所有元素及同位素,并能分析有机物的官能团。所以对样品表面进行TOF-SIMS分析,失效点(产生白点的位置)和正常位置的测试结果如下所示,由谱可知,相比正常位置,失效点含有较高的Cl和Br。由此推断:失效点含有较高含量的Cl和Br(极性强,易吸湿),在夏季湿热的环境下,吸...
那么,Tofsims能做什么呢?它如何成为创业者的理想选择?本文将深入解析Tofsims的潜力和优势,为想要创业加盟的人士指明方向。 一、Tofsims的核心能力 Tofsims作为一个综合性的商业平台,具备多种核心能力。它不仅提供了丰富的产品线,涵盖了多个行业领域,还通过先进的技术和创新的商业模式,为创业者们创造了一个低门槛、...
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