tof-sims,即飞行时间二次离子质谱,是一种用于分析材料表面成分的高灵敏度技术。它通过激发样品表面的原子或分子,使其释放出二次离子,对这些二次离子进行质谱分析,从而获得样品的化学成分与结构信息。tof(time of flight)该术语源于对离子飞行时间的测量,分离并分析不同质量的离子。 tof-sims的工作原理 tof-sims的工...
XPS测试-文章中常见错误11-XPS图谱能量方向和术语表达 我们探究号科技会一直更新包括(XPS/ TOF-SIMS/ FIB/TEM/SEM-EDS/AES/AFM/ FTIR/ GC-MS/ etc)原理、应用、数据分析和材料分析、失 - 探究号科技于20240927发布在抖音,已经收获了1063个喜欢,来抖音,记录美好生活!
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XPS测试-分析-15-XPS图谱中如何区分噪音和谱峰 探究号科技会一直更新包括(XPS/ TOF-SIMS/ FIB/TEM/SEM-EDS/AES/AFM/ FTIR/ GC-MS/ etc)原理、应用、数据分析和材料分析、失效分析相关 - 探究号科技于20241118发布在抖音,已经收获了1043个喜欢,来抖音,记录美好生活!
XPS测试-分析-文章中常见的错误-12-XPS图谱背底扣除 我们探究号科技会一直更新包括(XPS/ TOF-SIMS/ FIB/TEM/SEM-EDS/AES/AFM/ FTIR/ GC-MS/ etc)原理、应用、数据分析和材料分析、失 - 探究号科技于20241021发布在抖音,已经收获了1058个喜欢,来抖音,记录美好生活!
XPS测试-分析-文章中常见的错误-10-图谱需要平滑操作么 我们探究号科技会一直更新包括(XPS/ TOF-SIMS/ FIB/TEM/SEM-EDS/AES/AFM/ FTIR/ GC-MS/ etc)原理、应用、数据分析和材料分析、失 - 探究号科技于20240925发布在抖音,已经收获了1059个喜欢,来抖音,记录美好生活!