TOF-SIMS,二次离子质谱,高分辨率,质谱测试,微源检测 所在地 浙江省杭州市余杭区良渚街道通运街366号1幢206室 全国服务热线 17366631625 联系人 王工请说明来自顺企网,优惠更多 请卖家联系我 产品详细介绍 二次离子质谱(SIMS)即通过高能量的一次离子束轰击样品表面,当这些带有几千电子伏特能量的一次离子轰击样品表面...
TOF-SIMS具有超高表面灵敏度(~ 1 nm)和检测灵敏度(ppm-ppb级),以及极佳的质量分辨率和空间分辨率,可以检测包括H在内的所有元素和同位素,还可以提供膜层结构深度信息和三维重构(3D)信息,这些优势使得TOF-SIMS成为重要的表面分析技术。 北京理工大学材料学院先进材料实验中心(ECAM)的成立旨在更好地落实学校“一流的本...
实验结果和总结 一、深度分析结果 图为样品1在ToFSIMS负谱模式下的深度分布 该结果表明通过氧化物(典型SIs:O−,LiO−;Li如无进一步说明则是7Li)形成的钝化,比通过碳酸盐(典型SI:CO3−)或氢氧化物形成(典型SIs:OH−, LiO2H−)的钝化程度更深。这一结论也支持了双层钝化结构。
为了推动我国高端质谱仪器的自主研发,针对目前宇宙样品及地球化学珍贵样品稳定同位素、稀土元素微区原位分析的难题,国家重大科学仪器设备开发专项设立“同位素地质学专用TOF-SIMS(飞行时间二次离子质谱)科学仪器”项目,由中国地质科学院地质研究所国家科技基础条件平台北京离子探针中心牵头实施。 据了解,根据记者掌握的情况,项...
M6 是 IONTOF 在 TOFSIMS 5 基础上开发的新一代高端飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)仪器,对一次离子源(LMIG)和质量分析器(TOF Analyser)进行了突破性的改进。 此外,在硬件方面还增加了 MS/MS 功能选项,重新设计了加热和冷却系统;在软件方面新增了多元统计分析(MVSA)软件包。其设计保证了 SIMS 应用在所有领域...
最近做了一个TOF-SIMS(飞行时间二次离子质谱仪)测试,一直苦于数据的导出问题,目前使用"TOF-SIMSExplorer"软件对数据进行处理,现在我想导出一个硫离子(化合价为-1)和氟离子(化合价为-1)延深度分布的剖面图(DepthProfiles),此外我想利用“Export3DDataforLyra”导
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飞行时间二次离子质谱法(TOF-SIMS)是通过用一次离子激发样品表面,打出极其微量的二次离子,根据二次离子因不同的质量而飞行到探测器的时间不同来测定离子质量的极高分辨率的测量技术。元素分析范围广,可覆盖从氢元素至铀元素,包含有机无机材料的元素及分子态,拥有结构识别、检出限ppm级别、高表面灵敏度及其在微米及...
XRD测试,XRF测试,SEM测试,TEM测试,AFM测试,XRF测试,XPS测试,CT测试,EBSD测试,EPMA测试,压汞测试,UPS测试,ICP测试,元素分析测试,TOC测试,单晶衍射测试,TOF-SIMS测试等等 #金属 #检测设备 - 实验室测试-检测报告于20240304发布在抖音,已经收获了5548个喜欢,
成果一、通过TOF-SIMS分析锂金属负极的双层界面演化过程 在锂金属电池研究中,固体电解质界面膜(SEI)由于既能够传导锂离子,同时又可以隔绝电子传输,从而在电池反应中发挥重要作用。然而,SEI膜在电池运行过程中的结构演变很难被精确测量。 北京理工大学先进材料实验中心的宋廷鲁博士联合北京大学物理学院徐帆博士等人通过运用...