tof-sims,即飞行时间二次离子质谱,是一种用于分析材料表面成分的高灵敏度技术。它通过激发样品表面的原子或分子,使其释放出二次离子,对这些二次离子进行质谱分析,从而获得样品的化学成分与结构信息。tof(time of flight)该术语源于对离子飞行时间的测量,分离并分析不同质量的离子。 tof-sims的工作原理 tof-sims的工...
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