TOF-SIMS(Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry),即飞行时间二次离子质谱,是二次离子质谱(SIMS)技术的一个分类。它结合了二次离子质谱和飞行时间分析技术,具有高分辨率、高灵敏度、精确质量测定等特点,是目前高技术领域广泛使用的分析技术,可以分析元素、同位素、分子等信息。 按照扫描方式,SIMS可以分为静态...
检测类型: TOF-SIMS分析 检测范围: 有毒有害物质检测 颜色: 白色 资质: CMA、CNAS认证证书 成分分析: SEM分析、红外光谱测试等 精度: 无说明 重量: 未明确 失效分析: PCB板、金属、元器件、材料失效分析等 可靠性测试: 高温低测试、恒温恒湿测试等 无损检测: 工业CT、X-RAY测试、超声波扫描等...