TOF-SIMS是一种兼具高检测灵敏度、高质量分辨率、高空间分辨率的表面分析技术 可分析H在内的所有元素,并且可以分析同位素 能够检测分子离子,从而可以获取材料表面的分子组成信息 可以分析所有材料:导体、半导体、绝缘材料 TOF-SIMS样品制备 TOF-SIMS是一种极...
tof-sims,即飞行时间二次离子质谱,是一种用于分析材料表面成分的高灵敏度技术。它通过激发样品表面的原子或分子,使其释放出二次离子,对这些二次离子进行质谱分析,从而获得样品的化学成分与结构信息。tof(time of flight)该术语源于对离子飞行时间的测量,分离并分析不同质量的离子。 tof-sims的工作原理 tof-sims的工...
一、TOF-SIMS 原理介绍: 通过测量二次离子的质量来识别表面物质的化学成分 二、激发过程 :离子产生和表面灵敏度 一束高能初级离子轰击样品表 面激发出原子和分子碎片 1.仅一小部分激发出的粒子以离 子的状态离开表面,被质量分析器探测出来 2.对于无机材料, 原子离子百分 含量> 10% 3.对于有机材料,原子和...
TOF-SIMS 测试：高分辨率高灵敏度的二次离子质谱技术 二次离子质谱（SIMS）即通过高能量的一次离子束轰击样品表面，当这些带有几千电子伏特能量的一次离子轰击样品表面，会在轰击的区域引发一系列物理及化学过程，包括一次离子散射及表面原子、原子团、正负离子的溅射和表面化学反应等，产生二次离子，这些带电粒子经过质...
检测中心TOF-SIMS 相关参数: 检测元素范围:H-U 痕量分析灵敏度高:0.1-1ppm原子浓度 主要功能: 表面元素、同位素、分子式的表征 线/面扫描(2D成像)得到成分分布像 深度剖析和3D成像 真空转移盒 温馨提示📢:材料与器件检测技术中心所有...
TOF-SIMS分析技术具有针对元素或分子的微区成像和深度剖析功能, 高质量分辨和高空间分辨特点,且离子源多样化,使其分析测试对象逐渐延伸到“小众”领域,如考古文化遗存、古董、油画、艺术品、古陶瓷等。 六、环境 TOF-SIMS下污染过程大气细颗粒物(PM2.5)
TOF-SIMS测试分析能力及特点 TOF-SIMS 可以分析所有的导体、半导体、绝缘材料；对于材料/产品表面成分及分布，表面添加组分、杂质组分、表面多层结构/镀膜成分、表面异物残留（污染物、颗粒物、腐蚀物等）、表面痕量掺杂、表面改性、表面缺陷（划痕、凸起）等有很好的表征能力。TOF-SIMS技术的性能优势主要体现在高质量...
TOF-SIMS结合了二次离子质谱和飞行时间器的功能,提高了检测样品元素成分和分布的准确性。 TOF-SIMS横向和纵向的分辨率高且质谱提供的灵敏度高,可以分析元素、同位素、分子等信息。 这些特点使得TOF-SIMS成为表面分析的主要技术之一,可以提供EDX、AES、XPS等技术无法提供的元素信息。
一、TOF-SIMS技术简介 静态二次离子质谱(TOF-SIMS),即飞行时间二次离子质谱,是一种基于质谱的表面分析技术,它利用一次离子束轰击样品表面,引发原子或原子团的溅射,产生二次离子,这些带电的二次离子经过质量分析器后,根据质量的不同被分离,并到达探测器,从而得到质谱图;TOF-SIMS具有高分辨率、高精度、高灵敏度等优...
检测类型 TOF-SIMS测试 具体要求 请与技术经理确认 收费方式 先测后付 售后保障 免费复测 所属公司 成都世纪美扬科技有限公司 所属行业 科技服务 服务性质 第三方专业检测机构 服务范围 全国 总部 成都 科研团队 500+ 人员学历 100%硕博 自营实验室 30+ 平均测试周期 4.2天(可加急) 快递方式...