TOF-SIMS,飞行时间二次离子质谱,也叫静态二次离子质谱,是飞行时间和二次离子质谱结合的一种新的表面分析技术。TOF-SIMS结合了飞行时间和二次离子质谱的优点,具有高分辨、高灵敏度、精确质量测定等性能,是目前高技术领域广泛使用的分析技术。 飞行时间二次离子质谱是非常灵敏的表面分析手段。飞行时间二次离子质谱凭借质...
二次离子质谱(Secondary Ion Mass Spectrometry , SIMS)是一种基于离子束与样品表面相互作用的质谱分析技术,通过检测离子源(一次离子)轰击样品表面所产生的离子碎片(二次离子),可以获知样品表面的元素及分子组分信息。通过测量二次离子的质量来识别样品表面化...
飞行时间-二次离子质谱仪（Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry，简称TOF-SIMS）是一种基于质谱的表面分析技术。其原理是基于一次离子与样品表面相互作用（如下图）。高能一次离子束（如Ga+，Bi3+， Arn+，Cs+等）轰击样品表面，在轰击区域产生包含样品表面成分信息的带电粒子即离子，这些带电离子经过...
飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS),也叫静态二次离子质谱,是飞行时间和二次离子质谱结合的一种新的表面分析技术。TOF-SIMS具有高分辨、高灵敏度、精确质量测定等性能,是目前高技术领域广泛使用的分析技术。 此外,TOF-SIMS是非常灵敏的表面分析手段。其凭借质谱分析、二维成像分析、深度元素分析等功能,广泛应用于医学、...
总的来说，TOF-SIMS作为一种高分辨、高灵敏度的表面分析技术，在多个学科领域发挥着重要作用，为科学研究和技术发展提供了强有力的支持。实验室提供德国ION-TOF的先进TOF-SIMS仪器检测服务，可以为客户提供完善的SIMS技术解决方案。能够对于各行业样品检测掺杂剂和杂质深度剖面具有出色的检测限和深度分辨率，检测所有元素...
二次离子质谱大科普！TOF-SIMS实例分析 二次离子质谱（Secondary Ion Mass Spectrometry，SIMS）是一种非常灵敏的表面分析技术，通过用一次离子激发样品表面，打出的二次离子因质量不同而飞行到探测器的时间不同，实现不同元素、同位素及分子结构的探测。一、技术简介 静态二次离子质谱（TOF-SIMS），即飞行时间二次...
TOF-SIMS也有一些局限性。 (1)对样品溅射造成的微小破坏性; (2)样品目前主要是固态:薄膜或者块体; (3)粉末样品只能测试谱图,无法测试深度分析。 四、仪器介绍 4.1 仪器组成 飞行时间二次离子质谱仪主要由样品台、离子源、一次离子光学系统、二次离子提取系统、飞行时间检测器、数据分析系统组成。
TOF-SIMS表面分析方法 飞行时间二次离子质谱仪(Time of Flight-Secondary Ion Mass Spectrometer,TOF-SIMS)是由一次脉冲离子束轰击样品表面所产生的二次离子,经飞行时间质量分析器分析二次离子到达探测器的时间,从而得知样品表面成份的分析技术,具有以下检测优势: ...
飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS),也叫静态二次离子质谱,是飞行时间和二次离子质谱结合的一种新的表面分析技术。TOF-SIMS具有高分辨、高灵敏度、精确质量测定等性能,是目前高技术领域广泛使用的分析技术。 此外,TOF-SIMS是非常灵敏的表面分析手段。其凭借质谱分析、二维成像分析、深度元素分析等功能,广泛应用于医学、...
采集深度低，检测出限低，测试范围广，能分析空间分布的特点，适用于此类样品研究。富含lif-li3n功能cei层的三维tof-sims重构及其作用机制（仅用作交流学习，如有侵权请请联系删除）新能源电池材料测试先导者 后台回复“3D实验室”，带您云逛实验室 ——END——想了解更多精彩内容，快来关注科学指南针 ...