静态SIMS中入射离子通量较低,从而降低了分析深度,使该技术更具表面特异性。它还能减少碎片,有利于分析分子种类。 由于不同的仪器可以采用不同的操作模式,下面将围绕所使用的仪器类型展开。 4飞行时间二次离子质谱仪ToF-SIMS 现代ToF-SIMS仪器一般使用液态金属离子...
这些特点使得TOF-SIMS成为表面分析的主要技术之一,可以提供EDX、AES、XPS等技术无法提供的元素信息[3]。 3.2 分类 二次离子质谱主要有两种分类: (1)根据质谱计的差异分为三种 四极杆二次离子质谱Q-SIMS、磁偏转二次离子质谱MS-SIMS、飞行时间二次离子质谱TOF-SIMS 四极杆二次离子质谱主要利用电场扫描; 磁偏转二次...
二次离子质谱(Secondary Ion Mass Spectrometry , SIMS)是一种基于离子束与样品表面相互作用的质谱分析技术,通过检测离子源(一次离子)轰击样品表面所产生的离子碎片(二次离子),可以获知样品表面的元素及分子组分信息。通过测量二次离子的质量来识别样品表面化...
TOF-SIMS在线技术支持:康派斯检测 飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)技术,作为目前广受欢迎的表面分析技术之一,其在材料分析领域的独特优势已经得到了全球科研人员的广泛认可。此技术不仅具备出色的质量分辨本领和高空间分辨能力,更因其广泛的适用性,在有机、无机、生物、医学、电子、地质/考古、环境等多个领域都展现出...
TOF-SIMS（Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry），即飞行时间二次离子质谱，是二次离子质谱（SIMS）技术的一个分类。它结合了二次离子质谱和飞行时间分析技术，具有高分辨率、高灵敏度、精确质量测定等特点，是目前高技术领域广泛使用的分析技术，可以分析元素、同位素、分子等信息。按照扫描方式，SIMS可以分...
飞行时间二次离子质谱仪(TOF-SIMS)是一种非常灵敏的表面分析技术,主要用于有机样品的表面分析。它通过一次离子激发样品表面,产生微量的二次离子,根据这些离子飞行到探测器的时间不同来测定离子质量。由于离子飞行时间只依赖于它们的质量,因此一次脉冲就能得到一个全谱,离子利用率很高,能实现对样品几乎无损的静态分析。
其次，TOF-SIMS技术可以提供离子组成分析，识别并定量检测SEI膜中的各种离子物种，进一步深化对SEI膜的认识。此外，TOF-SIMS还可以通过分析负极表面的分子成分，探索电池内部发生的化学反应机制，为电池寿命和性能的改进提供重要的指导。TOF-SIMS技术的应用前景：TOF-SIMS技术在电池领域的应用前景广阔。通过深入研究负极表面...
TOF-SIMS(Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry)技术是一种高分辨率表面成分分析的方法。它通过将样本表面轰击成离子,并利用飞行时间质谱仪测量这些离子的时间和质量,从而确定样本的成分及其分布情况。TOF-SIMS技术不仅可以提供元素分析信息,还可以提供离子组成分析、分子成像等详细数据。 TOF-SIMS技术在负极表面...
数据采集系统用于采集仪器输出信号,并对离子数量进行还原,是TOF-SIMS仪器的关键部件,其对离子数量的还原程度会直接影响仪器的精度等参数[4],是TOF-SIMS用于高精度分析的瓶颈之一。 TOF-SIMS数据采集技术主要包括:模拟数字转换 (Analog-to-Digital Conversion,ADC)和时间数字转换(Time-to-Digital Conversion,TDC)[5]。
尤其近几年TOF-SIMS在矿物、纳米材料、聚合物材料、生物医药、能源电池材料、有机半导体等领域都有很好的应用。 本次课程将通过基本原理、技术特点、应用案例等3个方面深入浅出带你更好地了解什么是——飞行时间二次离子质谱仪(简称TOF-SIMS)。 课程安排 ...