TOF-SIMS分析技术及其应用.pdf,TOF-SIMS分析技术及其应用 清华大学分析中心 李展平 Tel: 6278-3586 zhanpingli@mail.Tsinghua.edu.cn 2020. 04. 20 主要内容: 1)TOF-SIMS 的特点、发展及背景 2 )TOF-SIMS 的基本原理、仪器结构与功能 3 )TOF-SIMS 的应用 TOF-SIMS分析技
该技术可应用在传统动态SIMS不能应用的领域,具有以下优点:可以在一个几乎无限制的质量范围内同步检测不同的离子;具有很高的高质量分辨率;达到精确质量测定,准确离子传输;分析样品表面的无机和有机污染物,同时具有微米和亚微米的分辨能力。 在详细阐述飞行时间二次离子质谱技术前,先回顾一下二次离子质谱的基本概念和原理...
飞行时间二次离子质谱仪(TOF-SIMS)是一种非常灵敏的表面分析技术,主要用于有机样品的表面分析。它通过一次离子激发样品表面,产生微量的二次离子,根据这些离子飞行到探测器的时间不同来测定离子质量。由于离子飞行时间只依赖于它们的质量,因此一次脉冲就能得到一个全谱,离子利用率很高,能实现对样品几乎无损的静态分析。T...
飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS),也叫静态二次离子质谱,是飞行时间和二次离子质谱结合的一种新的表面分析技术。TOF-SIMS具有高分辨、高灵敏度、精确质量测定等性能,是目前高技术领域广泛使用的分析技术。 此外,TOF-SIMS是非常灵敏的表面分析手段。其凭借质谱分析、二维成像分析、深度元素分析等功能,广泛应用于医学、...
2、TOF-SIMS原理及其特点 2.1 TOF-SIMS原理 2.2 TOF-SIMS特点 3、TOF-SIMS的一次离子束和离子源 4、TOF-SIMS的溅射束 5、TOF-SIMS的质量分析器 TOF-SIMS在线技术支持:康派斯检测 飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)技术,作为目前广受欢迎的表面分析技术之一,其在材料分析领域的独特优势已经得到了全球科研人员的广泛...
飞行时间二次离子质谱仪已经发展成为一个强大的微观表面分析应用技术。该技术可应用在传统动态SIMS不能应用的领域,具有以下优点:可以在一个几乎无限制的质量范围内同步检测不同的离子;具有很高的高质量分辨率;达到精确质量测定,准确离子传输;分析样品表面的无机和有机污染物,同时具有微米和亚微米的分辨能力。
20230619-赛默飞世尔科技(中国)有限公司葛青亲-基于XPS-SEM的表面分析联用技术和应用 492 0 01:04:05 App 20230925-香港浸会大学任康宁 -仿生表面之旅:大自然的魔法与未来之门 14.5万 60 00:22 App 学习学不进去怎么办?好办 265 0 26:09 App 20230619-上海交通大学孙洁林-扫描探针显微镜标准化体系及相关...
TOF-SIMS技术是什么？TOF-SIMS（Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry）技术是一种高分辨率表面成分分析的方法。它通过将样本表面轰击成离子，并利用飞行时间质谱仪测量这些离子的时间和质量，从而确定样本的成分及其分布情况。TOF-SIMS技术不仅可以提供元素分析信息，还可以提供离子组成分析、分子成像等详细数据...
摘要: 通过使用微束分析技术— TOF-SIMS(Time of flight Secondary Lon MassSpectrometry)研究了贵州贵定煤.研究表明,煤中硫主要以有机硫形式赋存于煤中,且相对含量较高.通过对谱图进行归一化,实现了丝质 体中有机质的半定量化,同时也对今后的洁净煤研究工作提出了一些建议.关键词: 微束分析技术;洁净煤;加工...
飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)是目前应用最广泛的表面分析技术之一,是一种具有高质量分辨本领(质量分辨率)和高空间分辨(空间分辨率)的表面分析技术,适用于有机,无机,生物,医学,电子,地质/考古,环境等各种领域的各种固体材料的分析.本文对TOF-SIMS分析技术的发展,原理,基本构成,特点和应用领域等方面做了全面介绍. ...