上位机是基于MATLAB开发的数据分析软件,利用快速傅里叶变换(FFT)的方法得到采集信号的频谱图像,并计算ADC的动态特性参数,包括:总谐波失真(THD)、信噪比(SNR)以及有效位数(ENOB)。为了准确地验证ADC的动态性能,分别采集了5组数据进行测试,每组的数据量为16 KB,并将测试结果与ADC芯片使用手册中给出的动态性能参数进行...
TOF-SIMS数据归一化软件是由北京理工大学著作的软件著作,该软件著作登记号为:2023SR0210598,属于分类,想要查询更多关于TOF-SIMS数据归一化软件著作的著作权信息就到天眼查官网!
TOF-SIMS-软件SurfaceLab 导出数据说明。我们探究号科技会一直更新包括(XPS/ TOF-SIMS/ FIB/TEM/SEM-EDS/AES/AFM/ FTIR/ GC-MS/ etc)原理、应用、数据分析和材料分析、失效分析相关案例的免费技术纯干货。感谢每一位粉丝的关注和积极反馈!想尽快掌握相关专业知识的小伙伴
仁研TOF-SIMS谱图测试控制软件是由南京仁研信息技术有限公司著作的软件著作,该软件著作登记号为:2023SR0524970,属于分类,想要查询更多关于仁研TOF-SIMS谱图测试控制软件著作的著作权信息就到天眼查官网!
TOF-SIMS TOF-DR软件-16-如何回溯特定深度(膜层)的质谱图或MAPPING图。我们探究号科技会一直更新包括(XPS/ TOF-SIMS/ FIB/TEM/SEM-EDS/AES/AFM/ FTIR/ GC-MS/ etc)原理、应用、数据分析和材料分析、失效分析相关案例的免费技术纯干货。感谢每一位粉丝的关注和积极反馈!
飞行时间二次离子质谱仪已经发展成为一个强大的微观表面分析应用技术。该技术可应用在传统动态SIMS不能应用的领域,具有以下优点:可以在一个几乎无限制的质量范围内同步检测不同的离子;具有很高的高质量分辨率;达到精确质量测定,准确离子传输;分析样品表面的无机和有机...
如果在死区时间内到达的SI数量少于4个,则可以通过对数据进行泊松统计校正来恢复线性响应。这通常由仪器软件自动执行。 有些仪器选择器可能具有扩展动态范围(EDR)功能,在这种情况下,产生检测器饱和的 SI 会通过衰减其信号强度的滤波器重新定向。例如,如果一个PI 脉冲产生25个X+ SI,则与该离子相关的信号将达到饱和;...
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飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS),也叫静态二次离子质谱,是飞行时间和二次离子质谱结合的一种新的表面分析技术。TOF-SIMS具有高分辨、高灵敏度、精确质量测定等性能,是目前高技术领域广泛使用的分析技术。 此外,TOF-SIMS是非常灵敏的表面分析手段。其凭借质谱分析、二维成像分析、深度元素分析等功能,广泛应用于医学、...