中和样品表面的荷电 四、氩离子设备多种参数设定 根据样品需要设置多种参数选择性 ▲图3 氩离子设备多种参数选择 五、不同设备仪器的氩离子设备 ▲图4 氩离子设备在XPS上 ▲图5 氩离子设备在PHI710上 ▲图6 氩离子设备在TOF-SIMS上 六、简易便捷的氩离子设备灯丝实体图 ▲图7 XPS的氩离子设备灯丝 ▲图8 ...
设备特点: 飞行时间二次离子质谱(time-of-flight secondary ion mass spectrometry, TOF-SIMS)采用一次脉冲离子入射材料表面,通过飞行时间质量分析器测试表面被激发出的二次离子,来表征样品表面的元素成分和分子结构信息。TOF-SIMS具有超高表面灵敏...
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包括如半导体,医药,生物,冶金,汽车等领域。 设备仪器 型号:TOF-SIMS5 参数:质量分辨率:29Si>12000,在m/z>200附近可以达17000以上;检测极限:ppm~ ppb级;质量范围:~12000;检测范围:所有元素(含H、He)及同位素;横向分辨率<70nm, 深度分辨率<1nm 应用:谱图检测、化学成分成像及深度剖析测试,可应用于分析有机、...
TOF-SIMS设备型号为TOF-SIMS5，其质量分辨率达到29Si>12000，在m/z>200附近可达17000以上。检测极限为ppm~ppb级，质量范围覆盖所有元素（含H、He）及同位素。横向分辨率<70nm，深度分辨率<1nm。应用于固体材料、生物组织或细胞的化学成像分析，以及半导体材料痕量杂质分析、薄膜样品三维空间尺度化学成分分布...
M6 是 IONTOF 在 TOFSIMS 5 基础上开发的新一代高端飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)仪器,对一次离子源(LMIG)和质量分析器(TOF Analyser)进行了突破性的改进。 此外,在硬件方面还增加了 MS/MS 功能选项,重新设计了加热和冷却系统;在软件方面新增了多元统计分析(MVSA)软件包。其设计保证了 SIMS 应用在所有领域...
M6 是 IONTOF 在 TOFSIMS 5 基础上开发的新一代高端飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)仪器,对一次离子源(LMIG)和质量分析器(TOF Analyser)进行了突破性的改进。 此外,在硬件方面还增加了 MS/MS 功能选项,重新设计了加热和冷却系统;在软件方面新增了多元统计分析(MVSA)软件包。其设计保证了 SIMS 应用在所有领域...
华南检测 TOF-SIMS飞行时间二次离子质谱仪 有机材料表面微量分析 暂无品牌 广东省华南检测技术有限公司 3年 查看详情 ￥2.20万 山东济宁 200米水平钻井机 横向山泉打井机 山体气动打水井全套设备 横向 全套 山东巨匠机械集团有限公司 5年 查看详情 ￥9.00万/台 江苏无锡 磁性分离器 不锈钢磁分离机 磁加速沉淀...
TOF-SIMS 具有很好的质谱分辨率和空间分辨率,在进行 3D 化学成分表征时也有极大的优势。在着重于表面分析、薄膜或薄层的成分的科技领域,TOF-SIMS 是最佳的表征手段。 欢迎客户朋友们预约测样! 后记:清华大学深圳国际研究生院材料与器件检测技术中心作为...
动态TOF-SIMS系统,它使用直流主束的飞行时间分析仪,创建了成像质谱的新范式。直流一次离子束的使用允许快速成像和连续数据采集(即没有单独的蚀刻周期),同时提供高空间和质量分辨率。特点:离子束带来高分子量分析和高空间分辨率四种离子束可选择用气体团簇离子束SIMS,可以分析高达3000Da的分子量无“仅蚀刻"循环的深度剖面...