CDM ESD波形的上升时间极短(ps-皮秒级),峰值电流很大 (5~20A/500V),维持时间极短(0.5~1ns),一般保护电路甚至来不及起作用。 图2 HBM、MM、CDM放电波形比较 2KV HBM、 200V MM、 与1KV CDM的放电电流比较(如上图2),其中1KV CDM的放电电流在不到1ns的时间内,便已冲到约15安培的尖峰值,其放电的总时...
测试项目:带电器件模型静电敏感度试验(ESD-CDM) 参考标准:ANSI/ESDA/JEDEC JS-002 2018 测试条件:按照ANSI/ESDA/JEDEC JS-002 2018;放电3次;±500V/±1000V/±1500V/±2000V; 试验接受条件:ESD-CDM 测试前后电流-电压曲线在参考电流下电压的改变量不超过30%以及包络线失效范围不超过±10% ...
静电放电(ESD)是指具有不同静电电位的物体互相靠近或直接接触引起的电荷转移,ESD会导致电子设备严重地损坏或操作失常,因而在芯片和系统设计中ESD是一项非常重要的指标。 目前的ESD测试标准有很多种,一般可分为芯片级和系统级,芯片级的测试包括多种静电放电模型,主要有人体模型(HBM)、机器模型(MM)、组件充电模型(CDM)...
笔者所经手项目多以FI-CDM(电场放电测试)为主。 图三.CDM脉冲校验参数与波形。 测试前需要对脉冲波形进行检测,满足要求后才能对待测芯片进行测试。而针对待测芯片在测试前和测试后都需要进行ATE测试,从而校验芯片是否失效。笔者也曾遇到在ESD测试后多次ATE结果不一的情况,ESD测试后即刻ATE结果表明芯片已经失效,而一段...
主要的ESD测试是人体模型(HBM),机器模型(MM)和充电设备模型(CDM)。 有许多成熟的模型可以针对ESD事件测试半导体器件的可靠性,以确保有效性和可靠性。主要的ESD测试是人体模型(HBM),机器模型(MM)和充电设备模型(CDM)(图1)。 图1.用于 HBM、MM 和 CDM 测试的 ESD 模型。
易捷测试是 Hanwa Electric Products 在中国的合作商和供应商,由于芯片ESD测试设备需求增长,还有很多工程技术人员对CDM不是很了解,现在让我们为你梳理下相关内容。 HANWA CDM设备 CDM ESD测试是一种检测半导体芯片在充电后与导体接触时的静电放电抗扰度的方法。它通常在半导体制造的最后阶段进行,以确保芯片的性能和可靠...
日本HANWA-紧凑型ESD测试机-HCE5000静电放电发生器EMC测试仪 ￥50.00万 查看详情 MPI TS3000/半自动探针台/12英寸晶圆测试/300mm 半导体设备 ￥66.60万 获取底价 深圳市易捷测试技术有限公司 商品描述 价格说明 联系我们 获取底价 商品描述 价格说明 联系我们 品牌 HANWA 是否支持加工定制 是 进口产地 日本 ...
图一.HBM,MM,CDM三种ESD的关系。 目前主流的SPICE等电路仿真软件都是基于电路原理进行仿真建模,最多将拟合后二级效应代入修正。而HBM与MM等ESD事件需要对电场分布,能量分布等参数进行建模分析,传统电路仿真软件已经无能为力,此时需要Sentaurus和Silvaco等TCAD软件进行仿真建模。一方面为了仿真收敛会大幅度简化模型复杂度,...
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汽车电子理事会(AEC)目前有一个CDM小组委员会,其正在更新Q100-011(集成电路)和Q101-005(无源器件)车用器件CDM标准文件以纳入JS-002,并结合AEC规定的测试使用条件。这些工作预计会在2017年底完成并获批准。 结语 观察ESDA提供的CDM ESD路线图,可知在更高IO性能的驱动下,CDM目标级别会继续降低。制造业对器件级CDM ...