从图7可得到如下结论：表面发生氧化；Cr在表面有偏析；Ni，Cr都已扩散到Si内。（2）识別包装材料上污染物 图8 无污染的焊盘（左）和有污染的焊盘 （右）图9 使用光学或二次电子图像（SXI）来选择污染区和无污染区的分析区域。图10 XPS光谱图 微区XPS光谱（图10）显示，污染区域存在钙和少量氟、氯、钠、镁...
同样地,ULVAC-PHI的数据处理软件MultiPak也集成了元素的化学位移信息,同时配合强大的数据拟合功能,便于元素的化学态识别。 XPS 在材料科学、化学、生物学等多个领域都有广泛应用,特别是在研究表面改性、腐蚀过程和涂层性能等方面发挥着重要作用。 五、XPS应用举例 (1)Si 片上镍铬合金经热处理后的深度分布 图7 从图...
本文采用 XPS 技术,对制备的无定型 Si-C-O-N 涂层进行了相关组成元素和结合状态的分析,为后续的研究工作奠定基础。1 实验Si-C-O-N 涂层采用上海有线电厂生产的型号为JG-PF-3B 射频磁控溅射仪来沉积。衬底和靶材分别采用市售的单面抛光的 RB SiC 陶瓷和自制的无压烧结的SiC 陶瓷, 尺寸分别为Ф38mm×3mm ...
1#样品表面各化学态对应元素相对原子百分含量如表1所示。 4.2 2#样品表面元素含量分析 对样品代表性点进行数据采集,发现样品表面除了C元素以外还含有大量的O元素,以及微量的S、N、Na、Si、Cl元素。为了对2#样品C元素进行更加准确的化学态表征,采用1#样品碳元素作参考,进而判断出2#样品除了sp2杂化碳外还含有C-C...
对样品代表性点进行数据采集,发现样品表面除了C元素以外还含有大量的O元素,以及微量的S、N、Na、Si、Cl元素。为了对2#样品C元素进行更加准确的化学态表征,采用1#样品碳元素作参考,进而判断出2#样品除了sp2杂化碳外还含有C-C、C-O以及C=O化学态的碳(如图3所示)。
c. 说明在损伤区发生了Si3N4薄膜的分解。 (2)线扫描分析 俄歇线扫描线扫描分析可以在微观和宏观的范围内进行(1～6000微米),可以了解一些元素沿某一方向的分布情况。 横坐标为线扫描宽度,纵坐标为元素的信号强度 (3)面扫描:元素面分布分...
图18 O1s背底扣除和峰选定 图19 Si/O/N定量结果 对于某些特定样品,不同元素主谱(最强峰)之间会存在相互干扰或重叠,这个时候可以采集没有干扰得次强峰,对样品成分进行定量分析。下图20和图21含有Ag/C/S同一样品的同一次测量结果,分别使用两种不同的方式进行定量,即采用Ag3d...
对比氧化前后硅烯的Si2p峰,发现√3 ×√3硅烯上的Si-Si键强度和位置并无变化,而√13×√13/ 4×4硅烯缓冲层对应的XPS衍射峰强度降低,往高结合能移动,表明√13×√13/ 4×4缓冲层与Ag(111)表面之间的Si-Ag键部分在氧处理过程中被破坏,而上层√3×√3硅烯层抗氧化。101.6 eV的SiOx峰证实Si-Ag键的断裂...
Si是硅元素的简写,是地壳中含量第二高的元素,具有广泛的应用价值。苯环是六个碳原子和六个氢原子构成的六角环状芳香化合物,是许多有机化合物的基本结构单元。 三、Si与苯环的结合能研究进展 1.实验方法 通过将Si和苯环共混、共沉积等方式制备Si-苯环复合材料,然后采用XPS技术研究其表面成分和化学键特征。 2.结果...
主营产品环境可靠性及失效分析、眼图测试、SI信号完整性测试、信号一致性验证、成分分析RT-IR/EDS、DSC、TGA、DMA、TMA;材料失效分析:声学扫描分析(C-SAM)、金相切片、X射线透射分析(X-ray)、 经营范围信号完整性测试、移动产品检验检测、验证、材料性能检测及失效分析、材料热分析、成分分析、配方分析、无损检测 ...