SRAMBIST测试技术是一种内部测试技术,用于在SRAM芯片中进行测试,以验证芯片的正确性,而不需要外部测试设备。该技术可以在SRAM芯片的生产过程中使用,以及在实际系统中进行故障诊断和修复。 SRAM BIST测试技术的原理是通过向SRAM芯片中注入随机数据,然后检测输出数据与输入数据是否一致来进行测试。在测试期间,输入和输出数据...
SRAM 的故障模型和 MarchC-SOF 存储器测 试算法能覆盖所有的 SAFs,SOFs,TFs,AFs 和 CFs. 优化面向 字节 ' 的 MarchC-SOF 算法和扩展 延时元素后 , 算法可对 SRAM 进行字节内组合故障 和数据维持力故障进行测试 最后提出了一种简化的 BIST 控制器结构 , 并应用到板级 SRAM 测试中 , 试 验证明这种方法是...
run.do:run bist flow bist setup => bist mode(bist gen / bist insert) =>bist integrate mbist.do: config bist logic fsm (定义算法 定义修复逻辑 定义output ) mbist_run: mbistarchitect ../netlist/top_name.v -rep -top top_module_name -logfile bist_log -insertion -dofile ../scripts/run....
SRAM BIST Speeds Design, Test Of Dual-Port Memories.(SynTest Technologies TurboBIST-SRAM)(Product Announcement)
SRAMBIST TheTestabilityCompany Copyright©2005SynTestTechnologies,Inc.2 Agenda •Introduction –Bistedmemory –Memorywrapper –SharingBISTcontroller –Groupingmemories •SrambistFlow •RTLlevelsimulationphase •SynthesisBISTRTLcodephase TheTestabilityCompany ...
基于BIST的SRAM型FPGA故障测试
基于March C+算法的SRAMBIST设计
采用读写分离和BIST可编程定时控制电路的低活性和泄漏功耗的SRAM(中文8000字,英文PDF) 摘要 高速低活性和泄漏功耗的SRAM存储器是为移动处理器开发的。这个用于低泄漏电流的电池阵列和电源切断的外围电路的睡眠模式处于待机模式,在主动模式下,通过使用虚拟地面控制的分布式解码器,泄漏功率降低了约4%。此外,采用读写时序...
一种提高故障覆盖率的自适应BIST测试方法 一种提高故障覆盖率的自适应BIST测试方法,通过SRAM测试控制模块,故障预分析模块和算法生成模块实现.SRAM测试控制模块控制待测SRAM存储阵列的工作电压,温度以及工艺等,使得SRAM在不同的工作环境下暴露出更多的故障行为,减少故障的逃逸率;故障预分析模块用来... 蔡志匡,周正,鄢士...
要:针对I_S—DSP中嵌入的128kbSRAM模块,讨论了基于MarchX算法的BIST电路的设计。根据SRAM的 故障模型和测试算法的故障覆盖率,讨论了测试算法的选择、数据背景的产生;完成了基于MarchX算法的BIST 电路的设计。128kbSRAMBIST电路的规模约为2000门,仅占存储器面积的1.2%,故障覆盖率高于80%。 关链词:SRAM,测试,March...