SRAMBIST测试技术是一种内部测试技术,用于在SRAM芯片中进行测试,以验证芯片的正确性,而不需要外部测试设备。该技术可以在SRAM芯片的生产过程中使用,以及在实际系统中进行故障诊断和修复。 SRAM BIST测试技术的原理是通过向SRAM芯片中注入随机数据,然后检测输出数据与输入数据是否一致来进行测试。在测试期间,输入和输出数据...
run.do:run bist flow bist setup => bist mode(bist gen / bist insert) =>bist integrate mbist.do: config bist logic fsm (定义算法 定义修复逻辑 定义output ) mbist_run: mbistarchitect ../netlist/top_name.v -rep -top top_module_name -logfile bist_log -insertion -dofile ../scripts/run....
SRAM BIST Speeds Design, Test Of Dual-Port Memories.(SynTest Technologies TurboBIST-SRAM)(Product Announcement)
SRAMBIST SRAMBIST TheTestabilityCompany Copyright©2005SynTestTechnologies,Inc.2 Agenda •Introduction –Bistedmemory –Memorywrapper –SharingBISTcontroller –Groupingmemories •SrambistFlow •RTLlevelsimulationphase •SynthesisBISTRTLcodephase
基于MarchX算法的SRAMBIST的设计 冯国臣 沈绪榜 刘春燕 (西安微电子技术研究所,陕西西安710054) 摘 要:针对I_S—DSP中嵌入的128kbSRAM模块,讨论了基于MarchX算法的BIST电路的设计。根据SRAM的 故障模型和测试算法的故障覆盖率,讨论了测试算法的选择、数据背景的产生;完成了基于MarchX算法的BIST 电路的设计。128kbSRA...
基于March C+算法的SRAMBIST设计
基于March C+算法的SRAM BIST设计 基于March C+算法的SRAM BIST设计 张志超;侯立刚;吴武臣 【摘 要】In order to increase controllability and ohservability in memory testing and to reduce the testing time, a BIST design hased on March C+ algorithm for a 32-bits SRAM in LEON processor is ...
一种提高故障覆盖率的自适应BIST测试方法 一种提高故障覆盖率的自适应BIST测试方法,通过SRAM测试控制模块,故障预分析模块和算法生成模块实现.SRAM测试控制模块控制待测SRAM存储阵列的工作电压,温度以及工艺等,使得SRAM在不同的工作环境下暴露出更多的故障行为,减少故障的逃逸率;故障预分析模块用来... 蔡志匡,周正,鄢士...
On this paper,we proposed a novel system of SRAM cell based BIST architecture scheme that is based on the concept of monitoring a set is known as window of vectors and the SRAM (static RAM)is used to store the relative places from examined window. These circuit inputs performs the ...
SRAM測試March算法BIST SEAMTestMarch X algorithmBIST針對LS-DSP中嵌入的128kb SRAM模塊,討論了基於March X算法的BIST電路的設計.根據SRAM的故障模型和測試算法的故障覆蓋率,討論了測試算法的選擇,數據背景的產生;完成了基於March X算法的BIST電路的設計.128kb SRAM BIST電路的規模約為2000門,僅佔存儲器面積的1.2%...