SRAMBIST测试技术是一种内部测试技术,用于在SRAM芯片中进行测试,以验证芯片的正确性,而不需要外部测试设备。该技术可以在SRAM芯片的生产过程中使用,以及在实际系统中进行故障诊断和修复。 SRAM BIST测试技术的原理是通过向SRAM芯片中注入随机数据,然后检测输出数据与输入数据是否一致来进行测试。在测试期间,输入和输出数据...
基于BIST的SRAM型FPGA故障测试
测试结构框图 4 结束语 SRAM 的故障模型和 MarchC-SOF 存储器测 试算法能覆盖所有的 SAFs,SOFs,TFs,AFs 和 CFs. 优化面向 字节 ' 的 MarchC-SOF 算法和扩展 延时元素后 , 算法可对 SRAM 进行字节内组合故障 和数据维持力故障进行测试 最后提出了一种简化的 BIST 控制器结构 , 并应用到板级 SRAM 测试中...
SRAM的repair 一般分为Word repair,row repair和column repair。Word repair使用寄存器存储defect cell的地址和数据,scan可以cover这些寄存器;row/column repair需要考虑BIST覆盖问题,在不同温度多次repair时redundancy cells的screen问题。 在量产测试中repair的电压选择也是一个balance的结果,repair voltage应该比target screen...
sram_bist模块:使用SRAM读写功能时,可看做8k×8的单端口SRAM;当BIST功能被使能时,将会由sram_bist内部的内建自测试电路生成Pattern对SRAM进行DFT测试。在本项目中,BIST功能将基于March C-算法设计,具体将在本文的第二章中介绍。在第一章中,我们将每个sram_bist模块视为8k×8的单端口SRAM即可 ...
逻辑中包含内置自测(BIST)、诊断和健康状况检查。为了简化与软件的集成,我们提供了驱动程序和C模型。由于它是纯数字、单时钟逻辑,因此可以轻松与任何技术综合。 软件参考实施方案从大约6KB的代码量起步,适用于各种主要平台,例如ARC、ARM、RISC-V、Intel和Xtensa。软件实施方案可用于通过固件升级将PUF技术集成到现有产品...
硬件IP 灵巧而快速——大约 25000门/50000个周期连接到常见接口,例如 AMBA® AHB、APB 以及专有接口。逻辑中包含内置的自测 (BIST)、诊断和自检,驱动程序用以简化与软件的集成。由于它是纯数字的单时钟逻辑,因此可以很容易地与任何技术进行结合。 软件参考应用从 4KB 的代码开始,可用于各主要平台,例如 ARM®、...
作为业界领先的内存测试解决方案,西门子Tessent MemoryBIST实现了片上内存全面自动化的全速测试、诊断、修复、调试和特性鉴定。 其中,力旺OTP在存储故障位方面发挥着重要作用。此整合解决方案标榜优化的OTP编程效率,并适用于各式 SoC 总线协议设计。与 eFuse 的区别在于,NeoFuse 内建自我检测机制,在不需增加多余电路下,...
Mem Bist是后端的内容,进行内建自测试 APB总线上只有一个master就是Bridge,其他模块全部都是slave System Controller也是slave,其中有一些寄存器,需要控制时钟开启和关断需要slave接口 CPU是一个master DMA既是Master又是slave,DMA需要有两个master接口,一个用来读,一个用来写;DMA需要有slave接口,CPU通过slave接口配置其...
bist_fail(bist_fail) ); endmodule 2. ahb_slave_if模块设计 (1)功能描述 ahb_slave_if模块是连接AHB总线和sram的接口模块,将AHB总线的控制信号、地址信号以及数据信号进行转化,并将其发送给相应的SRAM存储器。 AHB总线时序和sram时序的转化。AHB总线数据传输具有地址周期和数据周期,AHB的地址和控制信号发送完毕...