内建式自我测试(BuiltInSelfTest,BIST)为超大型积体电路常用的测试 基于fpga的安全sram的测试系统的研究与设计 018um工艺1kx8+bits同步sram模块设计 抗辐照4K×32bit+SRAM的研究与设计 【优秀硕士论文参考】基于BIST的嵌入式存储器可测性设计研究 130nm工艺下600MHz SRAM的全定制设计与实现 基于ECC电路的SRAM自检测...
两种模式之间选择或切换的代码如下: 其中,bist_en是MBIST的控制信号,该信号拉高则SRAM执行bist.v中的Pattern,反之则执行常规Function;sram_csn(低有效)是Chip selection(片选)信号,该信号拉低则表示当前8K SRAM被选中用来执行Function;dft_en是SRAM core的输出控制信号,该信号拉高则表示SRAM输出Test response。 2.测试...
其中,bist_en是MBIST的控制信号,该信号拉高电平,则SRAM执行bist.v中的Pattern,反之则执行常规Function;sram_csn(低有效)是Chip selection(片选)信号,该信号拉低则表示当前8K SRAM被选中用来执行Function;dft_en是SRAM core的输出控制信号,该信号拉高则表示SRAM输出Test response。 2.测试向量生成 MBIST内部嵌入了自动...
bist_fail(bist_fail) ); endmodule 2. ahb_slave_if模块设计 (1)功能描述 ahb_slave_if模块是连接AHB总线和sram的接口模块,将AHB总线的控制信号、地址信号以及数据信号进行转化,并将其发送给相应的SRAM存储器。 AHB总线时序和sram时序的转化。AHB总线数据传输具有地址周期和数据周期,AHB的地址和控制信号发送完毕...
嵌入针对这些常见故障,内建自测试(Built In-System Test, BIST)是目前集成电 路SRAM测试领域的主流测试方法。储存器是由相同结构的存储单元组成,具有简单的读、 写和擦除功能。SRAM的内建自测试,是在芯片内部,利用引线复用技术将SRAM相关的信号, 包括数据、地址和控制信号,直接连到SRAM引线上,通过发送测试向量来...
bist测试针对与mem测试,dft针对于standcell或者组合逻辑和时序逻辑(器件)进行测试 在芯片内部集成硬件,这个硬件可以输出激励给memory,还可以从memory接收输入并进行比较结果是不是正确 highlighter- Bash Bist测试(builtinselftest)function模式下,SRAM正常被总线访问ADDRCEN -- 片选使能WEN -- 写使能OEN -- 输出使能w...
由于FPGA具有可重复编程性,该方法通过编程将FPGA内部资源划分为多个内建自测试(BIST,built in self test)模块,然后多次配置改换每个BIST模块中各个组成部分的角色和测试路径,进而达到对FPGA内部资源完全测试的目的.由于给出的方法是将内部资源作为一个整体来测试,所以FPGA的可编程逻辑资源和互连资源的测试问题可同时进行...
本项目中,DFT功能通过BIST(Build-in Self Test,内建自测试)实现,采用March C-作为检测算法 最后,在Vivado平台上对本项目进行了逻辑仿真与验证 1. SRAM数据读写功能的实现 1.1 顶层设计架构 下面给出本项目的顶层设计架构,其中sram_top为顶层模块,其下包含sram_interface模块以及SRAM_core两个子模块 ...
一般分为Word repair,row repair和column repair。Word repair使用寄存器存储defect cell的地址和数据,scan可以cover这些寄存器;row/column repair需要考虑BIST覆盖问题,在不同温度多次repair时redundancy cells的screen问题。 在量产测试中repair的电压选择也是一个balance的结果,repair voltage应该比target screen电压要低一些...
MBIST意即存储器内建自测试(Memory Build In Self Test),是目前业界用来测试存储器的一种常见方法,其原理是通过多次反复读写SRAM来确定其是否存在制造中的缺陷。MBIST的EDA工具可针对内嵌存储器自动创建BIST逻辑,它支持多种测试算法的自动实现(常用算法为March C+),并可完成BIST逻辑与存储器的连接。此外,MBIST结构中...