采用XPS进一步分析了样品的表面化学状态。除了Si 2p的特征信号,在SiOx-LA@C和SiOx-LA@C–H中检测到了56.4 eV处的Li 1s和75.4 eV处的Al 2p的特征信号。然而,SiOx-LA@C-L中Li 1s和Al 2p的信号较弱,这可能是由于预锂化过程中添加的...
为探究界面网络对电化学性能的影响,采用流化床高温CVD法制备了具有代表性的3种含碳量相近的SiO基复合材料,根据制备时的气时空速(300、400、500 h-1)分别命名为SiO@C-1、SiO@C-2、SiO@C-3。首先利用XPS进行了结构分析,主要有Si(0)、Si(+1)、Si(+2)、Si(+3)和Si(+4)五个峰(图1 b)。Si(0)信号...
图2 SiO@Fe和SiO电极的高分辨率XPS光谱、准平衡电位和内阻 打开网易新闻 查看精彩图片 图3 SiO@Fe颗粒的TEM图 打开网易新闻 查看精彩图片 图4 SiO@C和SiO@Fe电极的倍率性能和长循环性能 本文来自微信公众号“材料科学与工程”。欢迎转载请联系,未经许可谢绝转载至其他网站。
使用XPS和STEM-EELS表征了SEI中发生的进一步化学变化。图5a和b显示了HT储存4周前后从石墨/SiO负极获得的XPS C 1 s、P 2p和F 1 s图谱表明,与内部富含有机物的层相比,外部富含有机物的层在热老化下更容易分解。因此,由于溶剂衍生的有机物种被...
图 1. (a) 700 至 1,200°C 温度范围内热处理得到的纳米纤维的 XRD 图谱，纳米纤维的相含量(b)和平均晶粒尺寸(c)；不同温度热处理得到的 TS 纳米纤维的 XPS 图谱：(d) Ti 2p，(e) Si 2p，(f) O 1s。表面化学分析：通过ESCALAB 250 X射线光电子能谱（XPS）对TS-800、TS-1000和TS-1200样品进行...
用XPS法研究SiO 2 /4H2SiC界面的组成 赵亮,王德君,马继开,陈素华,王海波 (大连理工大学电子系,辽宁大连116023) 摘要:利用X射线光电子谱(XPS)研究了高温氧化形成的SiO 2 /4H2SiC界面的化学组成。 获取低浓度HF酸刻蚀速度基础上制备出超薄氧化膜(1～115nm)样品,并借助标准物对照法辅 助谱峰分析。结果表明,高...
高分辨X射线光电子能谱(XPS)示出了在复合阻隔涂层或层与壁或基底之间存在一个界面. High-resolution X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) shows a coating or barrier between the composite layer and the substrate there is a wall or screen. 在一个方面中,该界面具有占O3SiC共价键加SiO4键的比例至少1...
图5.(a-d)-20℃下两类SiO/C负极循环50次后的F 1s, Li 1s, P 2p, S 2p XPS谱图。(e)-20℃下两类SiO/C负极循环50次后的表面原子浓度。 图6.(a)通过DFT计算得的Li离子与修饰层中有机组分的结合能。(b)电池中分子动力学模拟模型。 5.【成果启示】 ...
为了进一步理解碳覆盖层与Cu粒子之间相互作用以及对反应的促进机制,作者又利用H2-TPR、XPS、In situCO-FT-IR和碳酸乙烯酯吸附加氢FT-IR等一系列表征技术对Cu@C/SiO2催化剂进行了表征,发现Cu与石墨化的碳覆盖层之间的相互作用可能形成了Cu+-O-C 物种,有助于提高碳酸乙烯酯吸附活化和加氢的性能。
摘要: 本文介绍了经不同表面处理制成的PECVD SiO2/InP结构的俄歇电子能谱(AES)和X光电子能谱(XPS),分析了SiO2/InP结构介质层、界面过渡区和体内区的化学组分和组态。并研究了表面处理对SiO2/InP界面过渡区宽度及其化学物理结构的影响。关键词: 等离子增强化学汽相淀积 俄歇电子能谱 X光电子能谱 C—V特性滞后 ...