JEDEC 22a119 低温存储 JEDEC STANDARD Low Temperature Storage Life JESD22-A119 NOVEMBER 2004 JEDEC SOLID STATE TECHNOLOGY ASSOCIATION
内容提示: JEDEC STANDARD Low Temperature Storage Life JESD22-A119A (Revision of JESD22-A119, November 2004, Reaffirmed September 2009) OCTOBER 2015 JEDEC SOLID STATE TECHNOLOGY ASSOCIATION Downloaded by wang sheng (ws3640@163.com) on May 8, 2020, 6:24 am PDTbyd ...
JESD22-A110:有偏压的HAST高度加速寿命试验,让器件经受高温高湿条件,同时处于偏压之下,以加速器件腐蚀。 JESD22-A118:无偏压高速加速寿命试验,评估非气密性封装元件在无偏压条件下抗潮湿能力。 JESD22-A119:低温存储寿命试验,在不加任何偏压情况下,借由模拟低温环境评定产品于长时间承受与对抗低温的能力。 JESD22-A...
30 JESD22-B107 D Mar 2011 现行 标识耐久性 31 JESD22-B108 B Sep 2010 现行 表贴半导体器件的共面性试验 32 JESD22-B109 C Mar 2021 现行 倒装芯片拉脱试验 33 JESD22-B110 B.01 Jun 2019 现行 组件机械冲击 34 JESD22-B111 A Nov 2016 现行 手持电子产品组件的板级跌落试验 35 JESD22-B112 B A...
JESD22标准的意义 确保产品可靠性:JESD22 标准旨在确保半导体器件在各种环境和应力条件下都能够保持可靠性。通过定义一系列的测试方法和标准流程,制造商和设计者能够评估其产品在不同条件下的性能表现。 提高产品质量:标准化的测试方法有助于提高产品质量,减少缺陷和故障的可能性。制造商可以依据 JESD22 标准来进行可靠...
JEDEC JESD22-A119-2004 2004年 总页数 10页 发布单位 (美国)固态技术协会,隶属EIA 适用范围 该测试适用于所有固态器件的评估、筛选、监控和/或鉴定。 购买 正式版 专题 高低温储存家电低温存储低温 存储低温存储高温储存低温 储存箱低温储存箱低温 储存 箱低温储存低温 储存低温储存 标准存储 温度 ...
标准号:JEDEC JESD22-A119-2004(R2009)英文标准名称:Low Temperature Storage Life标准状态:A标准类型:国际标准 相关标准 《GB/T20384-2006》纺织品 氯化苯和氯化甲苯残留量的测定《BSENISO14362-3:2017》纺织品-偶氮染料分解芳香胺测定 第3部分 某些可能释放4-氨基偶氮苯的偶氮着色剂使用检测《GB/T20384-2006》...
JESD22-A119 低温存储寿命试验 说明: 在不加任何偏压情况下,藉由仿真低温环境评定产品于长时间承受与对抗低温的能力,此试验过程不施加偏压,试验结束后回到常温才能够进行电性测试。 适用设备:TON系列产品 JEDEC JESD22-A122功率循环测试 说明: 提供固态组件封装功率循环测试标准与方法,透过偏压的开关周期会造成封装体内...
国际标准分类中,jedec jesd22-a115-a涉及到半导体分立器件、集成电路、微电子学。在中国标准分类中,jedec jesd22-a115-a涉及到计算机综合、半导体分立器件综合、通用电子测量仪器设备及系统、半导体集成电路、光电子器件综合、敏感元器件及传感器、基础标准与通用方法、电子测量与仪器综合、数据元表示方法、电子元件综合。
JESD22标准的意义 确保产品可靠性:JESD22 标准旨在确保半导体器件在各种环境和应力条件下都能够保持可靠性。通过定义一系列的测试方法和标准流程,制造商和设计者能够评估其产品在不同条件下的性能表现。 提高产品质量:标准化的测试方法有助于提高产品质量,减少缺陷和故障的可能性。制造商可以依据 JESD22 标准来进行可靠...