内容提示: JEDEC STANDARD Low Temperature Storage Life JESD22-A119A (Revision of JESD22-A119, November 2004, Reaffirmed September 2009) OCTOBER 2015 JEDEC SOLID STATE TECHNOLOGY ASSOCIATION Downloaded by wang sheng (ws3640@163.com) on May 8, 2020, 6:24 am PDTbyd ...
需要金币:*** 金币(10金币=人民币1元) JEDEC JESD22-A119A-2015 国外国际规范.pdf 关闭预览 想预览更多内容,点击免费在线预览全文 免费在线预览全文 国外标准国际标准规范国外标准国际标准规范 下载文档 收藏 分享赏 0 内容提供方:xiaoqingtian 审核时间:2020-07-27 ...
JEDEC JESD22-B111A：2016 Board Level Drop Test Method of Components for Handheld Electronic Products(手持式电子产品元件的板级跌落测试方法)JEDEC JESD22-B112B ：2018 Package Warpage Measurement of Surface-Mount Integrated Circuits at Elevated Temperature（高温下的表面贴装集成电路的封装翘曲测量）JESD22-...
JEDEC JESD22-B106E:2016Resistance to Solder Shock for Through-Hole Mounted Devices (通孔安装器件的抗焊接冲击性 ) JEDEC JESD22-B107D:2011 Mark Permanency(标记永久性) JEDEC JESD22-B108B:2010 Coplanarity Test for Surface-Mount Semiconductor Devices( 表面贴装半导体器件的共面性测试 ) JEDEC JESD22...
JEDEC JESD22-A118B.01:2021 Accelerated Moisture Resistance - Unbiased HAST(加速的耐湿性-无偏的HAST) JEDEC JESD22-A119A:2015 Low Temperature Storage Life(低温储存寿命 ) JEDEC JESD22-A120C:2022 Test Method for the Measurement of Moisture Diffusivity and Water Solubility in Organic Materials Used...
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JESD22-A119A-2015低温存储寿命试验 在不加任何偏压情况下，借由模拟低温环境评定产品于长时间承受与对抗低温的能力，此试验过程不施加偏压，试验结束后回到常温才能够进行电性测试推荐设备：高低温试验箱 JESD22-A122A-2016功率循环测试 提供固态元件封装功率循环测试标准与方法，透过偏压的开关週期会造成封装体内温度...
13JESD22-A119A/ (LTSL)JESD22-A119ALow TemperatureStorage 14管脚疲劳度试验JESD22-B105C JESD22-B105C2006 易焊性试验 15JESD22-B102E (Solderability)JESD22-B102E 16晶须试验JESD22A121 锡须标准_JESD22A1 IMAPS-drop-impact- 17跌落试验dynamic-response- ...
JESD22-A119A-2015低温存储寿命试验 在不加任何偏压情况下,借由模拟低温环境评定产品于长时间承受与对抗低温的能力,此试验过程不施加偏压,试验结束后回到常温才能够进行电性测试 推荐设备:高低温试验箱 JESD22-A122A-2016功率循环测试 提供固态元件封装功率循环测试标准与方法,透过偏压的开关週期会造成封装体内温度分布...
JESD22-A101C 1000hrs 11 高温加速应力试验 (HAST) JESD22-A110 12 不上电的高加速湿气渗透试验(unbiased HAST) JESD22-A118 96hrs 13 低温储存试验 (LTSL) JESD22-A119A / 14 管脚疲劳度试验 JESD22-B105C 15 易焊性试验 (Solderability) JESD22-B102E 16 晶须试验 JESD22A121 17 跌落试验 IMAPS...