JESD22-B113B：2018 Board Level Cyclic Bend Test Method for Interconnect Reliability Characterization of SMT ICs for Handheld Electronic Products - 用于手持电子产品的SMT IC的互连可靠性表征的板级循环弯曲测试方法 JEDEC JESD22-B114B：2020 Mark Legibility（标记易读性）JEDEC JESD22-B115A.01：2016 Solder...
J EDEC STANDARD Highly Accelerated Temperature and Humidity Stress Test (HAST) JESD22-A110E (Revision of JESD22-A110D, November 2010) JULY 2015 JEDEC SOLID STATE TECHNOLOGY ASSOCIATION Solid State Technology AssociationProvided by IHS under license with JEDEC Licensee=Chongqing Institute of quality and...
JESD22-A110:有偏压的HAST高度加速寿命试验,让器件经受高温高湿条件,同时处于偏压之下,以加速器件腐蚀。 JESD22-A118:无偏压高速加速寿命试验,评估非气密性封装元件在无偏压条件下抗潮湿能力。 JESD22-A119:低温存储寿命试验,在不加任何偏压情况下,借由模拟低温环境评定产品于长时间承受与对抗低温的能力。 JESD22-A...
JEDEC JESD22-A108G:(Temperature, Bias, and Operating Life)温度偏置和使用寿命(2022年版) JESD22-A110-B:(Highly-Accelerated Temperature and Humidity Stress Test (HAST)高加速温度和湿度应力试验(HAST)(1999年版) JESD22-A110D:(Highly Accelerated Temperature and Humidity Stress Test (HAST))高加速温度...
JEDEC JESD22-A106B.01:2016 Thermal Shock(热冲击) JEDEC JESD22-A107C:2013 Salt Atmosphere(盐雾) JEDEC JESD22-A108F:2017 Temperature, Bias, And Operating Life(温度,偏置和使用寿命) JEDEC JESD22-A109B:2011 HERMETICITY(气密性) JEDEC JESD22-A110E.01:2020 Highly Accelerated Temperature and Humidity...
JESD22-A110E-2015有偏压的HAST高度加速寿命试验 说明:依据JESD22-A110规范,高低温湿热试验箱都是可以进行元器件高温高湿的试验,而且试验过程中需要施加偏压,目的是加速元器件腐蚀,高温高湿试验箱可以有效缩短试验时间 推荐设备:宏展高低温湿热试验箱、宏展冷热冲击试验箱、宏展快速温度变化试验箱...
JESD22-A110E-2015有偏压的HAST高度加速寿命试验 依据JESD22-A110规范，THB和BHAST都是进行元器件高温高湿的试验，而且试验过程需要施加偏压，目的是加速元器件腐蚀，而BHAST与THB的差别在于可以有效的缩短原本进行THB试验所需的试验时间推荐设备：高度加速寿命试验箱 JESD22A113I塑料表面贴装器件的可靠性测试之前的预...
JEDEC JESD22-A109B:2011 HERMETICITY(气密性) JEDEC JESD22-A110E.01:2020 Highly Accelerated Temperature and Humidity Stress Test (HAST) -高加速温度和湿度应力测试 (HAST) JEDEC JESD22-A111B :2018 Evaluation Procedure for Determining Capability to Bottom Side Board Attach by Full Body Solder Immersio...
JEDEC JESD22-A108F:2017 Temperature, Bias, And Operating Life(温度,偏置和使用寿命) JEDEC JESD22-A109B:2011 HERMETICITY(气密性) JEDEC JESD22-A110E.01:2020 Highly Accelerated Temperature and Humidity Stress Test (HAST) -高加速温度和湿度应力测试 (HAST) JEDEC JESD22-A111B :2018 Evaluation Proced...
JESD22-A110E-2015有偏压的HAST高度加速寿命试验 依据JESD22-A110规范,THB和BHAST都是进行元器件高温高湿的试验,而且试验过程需要施加偏压,目的是加速元器件腐蚀,而BHAST与THB的差别在于可以有效的缩短原本进行THB试验所需的试验时间 推荐设备:高度加速寿命试验箱 ...