JESD22-A100:循环温湿度偏置寿命测试,通过温度循环、湿度和通电偏压来测试非密封封装的固态器件在潮湿环境中的可靠度。 JESD22-A101:稳态温湿度偏置寿命测试,评估潮湿环境中非气密包装的固态设备可靠性。 JESD22-A102:封装IC无偏压PCT试验,评价非气密封装器件在水汽凝结或饱和水汽环境下抵御水汽的完整性。 JESD22-A104...
JEDEC JESD 22-A102 December 1, 2000 Accelerated Moisture Resistance - Unbiased Autoclave This test allows the user to evaluate the moisture resistance of nonhermetic packaged solid state devices. The Unbiased Autoclave Test is performed to evaluate the moisture resistance integrity of... JEDEC ...
30 JESD22-B107 D Mar 2011 现行 标识耐久性 31 JESD22-B108 B Sep 2010 现行 表贴半导体器件的共面性试验 32 JESD22-B109 C Mar 2021 现行 倒装芯片拉脱试验 33 JESD22-B110 B.01 Jun 2019 现行 组件机械冲击 34 JESD22-B111 A Nov 2016 现行 手持电子产品组件的板级跌落试验 35 JESD22-B112 B A...
JESD22-B102D:(Solderability)可焊性 JESD22-B102E:(Solderability)可焊性(2007年版) JESD22-B103-B:(Vibration, Variable Frequency)振动、变频 JESD22-B104-B:(Mechanical Shock)机械冲击 JESD22-B105-C:(Lead Integrity)引线完整性 JESD22-B106-B:(Resistance to Soldering Temperature for Through-Hole Mo...
内容提示: JEDEC STANDARD Accelerated Moisture Resistance - Unbiased Autoclave JESD22-A102D (Revision of JESD22-A102-C, December 2000) NOVEMBER 2010 JEDEC SOLID STATE TECHNOLOGY ASSOCIATION Copyright Solid State Technology Association Provided by IHS under license with JEDEC Not for Resale No ...
JEDEC版本号为JESD22-A102C,采用标准为22A102C-PCT.PDF,测试时间为168小时。 温度循环试验(TCT)是一种测试半导体器件耐温性的标准。JEDEC版本号为JESD22-A104D,测试时间为500个循环。 温度循环寿命测试(JESD22-A100C)是一种测试半导体器件寿命的标准,采用标准为Cycled XXX-H。 上电温度循环(22A105-B)是一种...
(Revision of JESD22-A101-A) April 1997 [Text-jd002] [JDa3] JESD22-A102-C Accelerated Moisture Resistance -Unbiased Autoclave 高加速蒸煮试验, (Revision of JESD22-A102-B) December 2000 [Text-jd003] [JDa4] JESD22-A103-A Test Method A103-A High Temperature Storage Life 高温储存寿命试验,...
提高产品质量:标准化的测试方法有助于提高产品质量,减少缺陷和故障的可能性。制造商可以依据 JESD22 标准来进行可靠性测试,从而更好地了解产品的寿命、稳定性和可靠性。 促进产业标准化:JESD22 标准为半导体行业提供了一套通用的测试标准,促进了行业内的标准化。这有助于不同厂商的产品在设计、制造和测试方面达到一...
A100-BCycled Temperature-Humidity-Bias Life Test上电温湿度循环寿命试验, (Revision of JESD22-A100-A) April 2000 Text-jd001JDa2JESD22-A101-BSteady State Temperature Humidity Bias Life Test上电温湿度稳态寿命试验, (Revision of JESD22-A101-A) April 1997 Text-jd002JDa3JESD22-A102-CAccelerated ...
22A113F FT+ MSL3+FT 3 超声扫描判定标准 J-STD-035D 4 高压蒸煮试验 (PCT) JESD22-A102C 168hrs 5 温度循环试验 (TCT) JESD22-A104D 500cycles 6 温度循环寿命测试 JESD22-A100C 7 上电温度循环 22A105-B 8 高温储存试验 (HTST) JESD22-A103C 1000hrs 9 高温环境条件下的工作寿命试验 JESD22-...