JEDEC JESD22-B119 下载积分: 2000 内容提示: JEDEC STANDARD Mechanical Compressive Static Stress Test Method JESD22-B119 OCTOBER 2018 JEDEC SOLID STATE TECHNOLOGY ASSOCIATION Downloaded by wang xue (thoosiau@gmail.com) on Jul 12, 2020, 10:12 pm PDTHGG ...
JEDEC JESD22-B108B：2010 Coplanarity Test for Surface-Mount Semiconductor Devices（ 表面贴装半导体器件的共面性测试 ）JEDEC JESD22-B109C：2021 Flip Chip Tensile Pull（倒装芯片拉伸强度）JEDEC JESD22-B110B.01：2019 Mechanical Shock – Device and Subassembly（机械冲击 - 设备和组件）JEDEC JESD22-B111...
JEDEC JESD22-B106E:2016Resistance to Solder Shock for Through-Hole Mounted Devices (通孔安装器件的抗焊接冲击性 ) JEDEC JESD22-B107D:2011 Mark Permanency(标记永久性) JEDEC JESD22-B108B:2010 Coplanarity Test for Surface-Mount Semiconductor Devices( 表面贴装半导体器件的共面性测试 ) JEDEC JESD22-...
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JEDEC JESD22-B118A:2021 Semiconductor Wafer and Die Backside External Visual Inspection(半导体晶圆和芯片背面外部视觉检测) JEDEC JESD22-B119:2018 Mechanical Compressive Static Stress Test Method( 机械抗压静态应力测试法) ANSI/ESDA/JEDEC JS-001-2017 Electrostatic Discharge Sensitivity Testing Human Body Mo...
1. 来自JEDEC的可靠性测试标准：- JESD22-A100E至JESD22-A122A系列，包括温度循环、湿度测试、电可擦除可编程ROM测试等，全面覆盖了不同的环境和条件下的寿命评估。- JESD22-B100B至JESD22-B119A涵盖物理尺寸、外观、可焊性、振动测试等组件性能测试。- JEP001-2017和JEP176至JEP180.01则涉及可靠...
国际标准分类中,jedec jesd22b112涉及到半导体分立器件、电子元器件综合、表面处理和镀涂、信息技术用语言。在中国标准分类中,jedec jesd22b112涉及到电子测量与仪器综合、基础标准与通用方法、通用电子测量仪器设备及系统、电子元件综合、敏感元器件及传感器、半导体分立器件综合、半导体发光器件、光电子器件综合、材料防护、...
JEDEC JESD217A.01-2022JEDEC JESD217A.01-2022 JEDEC JESD22-A120C-2022JEDEC JESD22-A120C-2022 EIA JEDEC JEP126-1996EIA JEDEC JEP126-1996 JEDEC JEP103A-1996(1999)JEDEC JEP103A-1996(1999) JEDEC JESD209-4E-2024JEDEC JESD209-4E-2024 ...
JEDEC JESD22-B119:2018 Mechanical Compressive Static Stress Test Method( 机械抗压静态应力测试法) ANSI/ESDA/JEDEC JS-001-2017 Electrostatic Discharge Sensitivity Testing Human Body Model (HBM) -Component Level (静电放电敏感度测试 -人体模型(HBM)- 器件级别) ...
JEDEC JESD22-B119:2018 Mechanical Compressive Static Stress Test Method ANSI/ESDA/JEDEC JS-001-2017 Electrostatic Discharge Sensitivity Testing Human Body Model (HBM) -Component Level JEP70C:2013 Guide to Standards and Publications Relating to Quality and Reliability of Electronic Hardware ...