1. JEDEC JESD22-A114:这个标准规定了集成电路(IC)和元件对人体模型(HBM)ESD的测试方法和要求。 2. JEDEC JESD22-A115:这个标准规定了IC和元件对扩散模型(CDM)ESD的测试方法和要求。 3. JEDEC JESD22-C101:这个标准规定了IC和元件对系统级模型(MM) ESD的测试方法和要求。 这些标准定义了ESD测试的条件、仪器...
22 JESD22-A122 A Jun 2016 现行 功率循环 23 JESD22-B100 B Jun 2003 现行 物理尺寸 24 JESD22-B101 C Oct 2015 现行 外部目检 25 JESD22-B102 E Oct 2007 废止 可焊性,2014年废止,本文件已被J-STD-002D所取代。 26 JESD22-B103 B.01 Sep 2016 现行 振动,变频 27 JESD22-B104 C Nov 2004 ...
[JDb2]EIA/JESD22-A115-AElectrostatic Discharge (ESD) Sensitivity Testing Machine Model (MM)机器模型条件下的静电放电敏感度试验, (Revision of EIA/JESD22-A115) October 1997 [Text-jd015] [JDb3]JESD22-A117Electrically Erasable Programmable ROM (EEPROM) Program/Erase Endurance and Data Retention Test...
8、A114-BElectrostatic Discharge (ESD) Sensitivity Testing Human Body Model (HBM)人体模型条件下的静电放电敏感度试验, (Revision of JESD22-A114-A) June 2000 Text-jd014JDb2EIA/JESD22-A115-AElectrostatic Discharge (ESD) Sensitivity Testing Machine Model (MM)机器模型条件下的静电放电敏感度试验, (Rev...
EIA/JESD22-A115-A 是( )。(2 分) A. 人体模型条件下的静电放电敏感度试验 B. 机器模型条件下的静电放电敏感度试验 C. 多芯片封装 D. 固态存储器 13. MSL3 产品厚度<=1.4mm, 烘烤温度为 150° C 时 JEDEC 033 标准推荐的烘烤时间为: ()。(2 分) A. B. C. D. 8hours 16hours 21hours 24...
[JDb2] EIA/JESD22-A115-A Electrostatic Discharge (ESD) Sensitivity Testing Machine Model (MM)机器模型条件下的静电放电敏感度试验, (Revision of EIA/JESD22-A115) October 1997 [Text-jd015] [JDb3] JESD22-A117 Electrically Erasable Programmable ROM (EEPROM) Program/Erase Endurance and Data ...
[JDb2] EIA/JESD22-A115-A Electrostatic Discharge (ESD) Sensitivity Testing Machine Model (MM) 机器模型条件下的静电放电敏感度试验, (Revision of EIA/JESD22-A115) October 11017 [Text-jd015] [JDb3] JESD22-A117 Electrically Erasable Programmable ROM (EEPROM) Program/Erase Endurance ...
(Revision of JESD22-A114-A) June 2000 [Text-jd014] [JDb2] EIA/JESD22-A115-A Electrostatic Discharge (ESD) Sensitivity Testing Machine Model (MM)机 器模型条件下的静电放电敏感度试验, (Revision of EIA/JESD22-A115) October 1997 [Text-jd015] [JDb3] JESD22-A117 Electrically Erasable ...
[JDb2]EIA/JESD22-A115-AElectrostatic Discharge (ESD) Sensitivity Testing Machine Model (MM)机器模型条件下的静电放电敏感度试验, (Revision of EIA/JESD22-A115) October 1997 [Text-jd015] [JDb3]JESD22-A117Electrically Erasable Programmable ROM (EEPROM) Program/Erase Endurance and Data Retention Test...
JESD22标准的意义 确保产品可靠性:JESD22 标准旨在确保半导体器件在各种环境和应力条件下都能够保持可靠性。通过定义一系列的测试方法和标准流程,制造商和设计者能够评估其产品在不同条件下的性能表现。 提高产品质量:标准化的测试方法有助于提高产品质量,减少缺陷和故障的可能性。制造商可以依据 JESD22 标准来进行可靠...