JEDEC JESD22-A118B.01:2021 Accelerated Moisture Resistance - Unbiased HAST - 完整英文电子版(9页).pdf,JEDEC STANDARD Accelerated Moisture Resistance - Unbiased HAST JESD22-A118B.01 (Minor editorial revision of JESD22-A118B, Juliy 2015) MAY 2021 JEDEC S
JEDECSTANDARDAcceleratedMoistureResistance-UnbiasedHASTJESD-A118BRevisionofJESD-A118AMarch011JULY015JEDECSOLIDSTATETECHNOLOGYASSOCIATIONDownloadedbywangshengws3640@163.comonMay8006:4amPDTbyd
JESD22-A110:有偏压的HAST高度加速寿命试验,让器件经受高温高湿条件,同时处于偏压之下,以加速器件腐蚀。 JESD22-A118:无偏压高速加速寿命试验,评估非气密性封装元件在无偏压条件下抗潮湿能力。 JESD22-A119:低温存储寿命试验,在不加任何偏压情况下,借由模拟低温环境评定产品于长时间承受与对抗低温的能力。 JESD22-A...
JESD22-A115B:(Electrostatic Discharge (ESD) Sensitivity Testing, Machine Model (MM))机器模型(MM)静电放电(ESD)灵敏度测试 JESD22-C101-A:(Field-Induced Charged-Device Model Test Method for ElectrostaticDischarge-Withstand Thresholds of Microelectronic Components)微电子元件(CDM)静电放电(ESD)灵敏度测试 J...
JEDEC JESD22-A118B.01：2021 Accelerated Moisture Resistance - Unbiased HAST（加速的耐湿性-无偏的HAST）JEDEC JESD22-A119A：2015 Low Temperature Storage Life（低温储存寿命 ）JEDEC JESD22-A120C：2022 Test Method for the Measurement of Moisture Diffusivity and Water Solubility in Organic Materials ...
JEDEC JESD22-A118B.01:2021 Accelerated Moisture Resistance - Unbiased HAST(加速的耐湿性-无偏的HAST) JEDEC JESD22-A119A:2015 Low Temperature Storage Life(低温储存寿命 ) JEDEC JESD22-A120C:2022 Test Method for the Measurement of Moisture Diffusivity and Water Solubility in Organic Materials Used...
JEDEC JESD22-A118B.01:2021 Accelerated Moisture Resistance - Unbiased HAST(加速的耐湿性-无偏的HAST) JEDEC JESD22-A119A:2015 Low Temperature Storage Life(低温储存寿命 ) JEDEC JESD22-A120C:2022 Test Method for the Measurement of Moisture Diffusivity and Water Solubility in Organic Materials Used...
JESD22A113I塑料表面贴装器件的可靠性测试之前的预处理 针对非密闭SMD零件，在电路板组装过程，因为本身会因为封装水气导致SMD出现损坏，预处理可以模拟在组装过程可能出现的可靠度问题，透过此规范的测试条件找出SMD与PCB在回流銲组装的潜在瑕疵。推荐设备：高低温试验箱、冷热冲击试验箱 JESD22-A118B-2015无偏压高速...
JEDEC版本号为JESD22-A118,测试时间为96小时。 低温储存试验(LTSL)是一种测试半导体器件耐低温性的标准。JEDEC版本号为JESD22-A119A。 管脚疲劳度试验(JESD22-B105C)是一种测试半导体器件管脚连接的耐久性的标准。 易焊性试验(Solderability)是一种测试半导体器件焊接性能的标准。JEDEC版本号为JESD22-B102E。
另外,JEDEC还有封装的标准,如JEDEC版本号为JESD22-A118和JESD22-A119A的低温储存试验(LTSL)标准,以及管脚疲劳度试验(JESD22-B105C)和易焊性试验(Solderability)等标准。 总之,JEDEC的制造标准涵盖了从电子元件性能到封装和可靠性测试等多个方面,这些标准有助于推动行业的规范化和标准化发展。如需更多具体信息,建议...