22 JESD22-A122 A Jun 2016 现行 功率循环 23 JESD22-B100 B Jun 2003 现行 物理尺寸 24 JESD22-B101 C Oct 2015 现行 外部目检 25 JESD22-B102 E Oct 2007 废止 可焊性,2014年废止,本文件已被J-STD-002D所取代。 26 JESD22-B103 B.01 Sep 2016 现行 振动,变频 27 JESD22-B104 C Nov 2004 ...
[JDb1]JESD22-A114-BElectrostatic Discharge (ESD) Sensitivity Testing Human Body Model (HBM)人体模型条件下的静电放电敏感度试验, (Revision of JESD22-A114-A) June 2000 [Text-jd014] [JDb2]EIA/JESD22-A115-AElectrostatic Discharge (ESD) Sensitivity Testing Machine Model (MM)机器模型条件下的静电放...
1、JEDEC工业标准环境应力试验JDal JESD22-A100-BCycled Temperature-Humidity-Bias Life Test 上电温湿度循环寿命试验,(Revisi on of JESD22-A100-A) April 2000 Text-jd001 JDa2 JESD22-A101-BSteady State Temperature Humidity Bias Life Test 上电温湿度稳态寿命试验,(Revision of JESD22-A101-A) April ...
[JDb2] EIA/JESD22-A115-A Electrostatic Discharge (ESD) Sensitivity Testing Machine Model (MM)机器模型条件下的静电放电敏感度试验, (Revision of EIA/JESD22-A115) October 1997 [Text-jd015] [JDb3] JESD22-A117 Electrically Erasable Programmable ROM (EEPROM) Program/Erase Endurance and Data ...
[JDb2] EIA/JESD22-A115-A Electrostatic Discharge (ESD) Sensitivity Testing Machine Model (MM) 机器模型条件下的静电放电敏感度试验, (Revision of EIA/JESD22-A115) October 11017 [Text-jd015] [JDb3] JESD22-A117 Electrically Erasable Programmable ROM (EEPROM) Program/Erase Endurance ...
[JDb2]EIA/JESD22-A115-AElectrostatic Discharge (ESD) Sensitivity Testing Machine Model (MM)机器模型条件下的静电放电敏感度试验, (Revision of EIA/JESD22-A115) October 1997 [Text-jd015] [JDb3]JESD22-A117Electrically Erasable Programmable ROM (EEPROM) Program/Erase Endurance and Data Retention Test...
EIA/JESD22-A115-A Electrostatic Discharge (ESD) Sensitivity Testing Machine Model (MM)机器模型条件下的静电放电敏感度试验, (Revision of EIA/JESD22-A115) October 1997 [ HYPERLINK /DATA/standards/jd015_22a115a.pdfText-jd015] [JDb3]??? JESD22-A117 Electrically Erasable Programmable ROM (EEPROM...
[JDb2]EIA/JESD22-A115-AElectrostaticDischarge(ESD) SensitivityTestingMachineModel(MM) 机器模型条件下的静电放电敏感度试验, (Revision of EIA/JESD22-A115) October 1997 [Text-] [JDb3] JESD22-A117 Electrically Erasable Programmable ROM (EEPROM) Program/Erase Endurance and Data Retention Test EEP...
EIA/JESD22-A115-A 是( )。(2 分) A. 人体模型条件下的静电放电敏感度试验 B. 机器模型条件下的静电放电敏感度试验 C. 多芯片封装 D. 固态存储器 13. MSL3 产品厚度<=1.4mm, 烘烤温度为 150° C 时 JEDEC 033 标准推荐的烘烤时间为: ()。(2 分) A. B. C. D. 8hours 16hours 21hours 24...
这些器件具有60°半强度角、范围介于45mcd～112mcd的高光强度以及高达2kV的ESD耐压值,符合JESD22-A114-B规范。该新系列中的器件采用EIA与ICE标准PLCC-2封装, 上传者:weixin_38537050时间:2020-12-01 74LVC32A_3 很好的嵌入式 arm 学习资料 需要的话可以下下来看看 希望对大家有用 ...