JEDEC 22a119 低温存储 JEDEC STANDARD Low Temperature Storage Life JESD22-A119 NOVEMBER 2004 JEDEC SOLID STATE TECHNOLOGY ASSOCIATION
内容提示: JEDEC STANDARD Low Temperature Storage Life JESD22-A119A (Revision of JESD22-A119, November 2004, Reaffirmed September 2009) OCTOBER 2015 JEDEC SOLID STATE TECHNOLOGY ASSOCIATION Downloaded by wang sheng (ws3640@163.com) on May 8, 2020, 6:24 am PDTbyd ...
JESD22-A110:有偏压的HAST高度加速寿命试验,让器件经受高温高湿条件,同时处于偏压之下,以加速器件腐蚀。 JESD22-A118:无偏压高速加速寿命试验,评估非气密性封装元件在无偏压条件下抗潮湿能力。 JESD22-A119:低温存储寿命试验,在不加任何偏压情况下,借由模拟低温环境评定产品于长时间承受与对抗低温的能力。 JESD22-A...
32 JESD22-B109 C Mar 2021 现行 倒装芯片拉脱试验 33 JESD22-B110 B.01 Jun 2019 现行 组件机械冲击 34 JESD22-B111 A Nov 2016 现行 手持电子产品组件的板级跌落试验 35 JESD22-B112 B Aug 2018 现行 高温封装翘曲度测试方法 36 JESD22-B113 B Aug 2018 现行 手持电子产品组件互连可靠性特性的板级...
至于JESD22,它是 JEDEC 发布的系列标准之一,具体而言是关于环境、可靠性和应力测试的标准。JESD22 标准涵盖了各种测试方法,用于评估半导体器件在不同环境和应力条件下的性能和可靠性。这包括了温度、湿度、电气特性、机械应力等多个方面的测试。 JESD22标准列表 ...
JEDEC JESD22-A119-2004 中可能用到的仪器设备低温恒温器 自动化低温存储系统 专题高低温储存 家电低温存储 低温 存储 低温存储 高温储存 低温储存箱 低温 储存 箱 低温 储存箱 低温 储存 低温储存 标准 低温储存 存储温度 JEDEC JESD22-A119-2004相似标准...
JESD22-A101.01 稳态温湿度偏置寿命测试 说明: 本标准规定了在施加偏压的条件下进行温度-湿度寿命测试的定义方法和条件,该测试用来评估潮湿环境中非气密包装的固态设备可靠性(如:密封IC器件),采用高温和高湿条件以加速水分通过外部的保护材料(密封剂或密封),或沿着外部保护涂层与导体与其他穿过部件之间的界面渗透。
JESD22-A101.01 稳态温湿度偏置寿命测试 说明: 本标准规定了在施加偏压的条件下进行温度-湿度寿命测试的定义方法和条件,该测试用来评估潮湿环境中非气密包装的固态设备可靠性(如:密封IC器件),采用高温和高湿条件以加速水分通过外部的保护材料(密封剂或密封),或沿着外部保护涂层与导体与其他穿过部件之间的界面渗透。
18 JESD22-A118 B.01 May 2021 现行 加速水汽抵抗性——无偏压HAST(无偏置电压未饱和高压蒸汽) 19 JESD22-A119 A Oct 2015 现行 低温贮存寿命 20 JESD22-A120 B Jul 2014 现行 用于集成电路的有机材料的水汽扩散率以及水溶解度试验方法 21 JESD22-A121 A Jul 2008 现行 锡及锡合金表面镀层晶须生长的测...
国际标准分类中,jedec22涉及到半导体分立器件、集成电路、微电子学、电子显示器件、表面处理和镀涂、信息技术用语言、信息技术应用、电子元器件综合、地板处理设备、电子设备用机械构件、印制电路和印制电路板。 在中国标准分类中,jedec22涉及到通用电子测量仪器设备及系统、半导体集成电路、光电子器件综合、电子元件综合、...