Scan stitching是把上一步中得到的Scan DFF的Q和SI连接在一起形成scan chain。在芯片的顶层有全局的SE信号,以及scan chain的输入输出信号:SI 和 SO。通过scan chain的连续动作,就可以把问题从对复杂时序电路的测试转化成测试组合电路。 下面我们把时序逻辑和组合逻辑放在一起,来看一下scan insertion 之前和之后的区...
Scan replacement就是把电路中的normal时序单元(如DFF)替换为一个scan 时序单元(SDFF)。其SE端值为0时,电路工作在正常功能状态并能把D端的值锁存下来;当SE为1时,电路工作在所谓scan mode并锁存SI的值。 Scan stitching 是把上一步中得到的Scan DFF的Q和SI连接在一起形成scan chain。在芯片的顶层有全局的SE信...
Fig. 1 Structural distortions displayed by SrBiO3 and BaBiO3 in the P21/n ground state phase.由法国诺曼底大学CRISMAT实验室的Julien Varignon博士研究表明，SCAN泛函足以捕捉在空穴掺杂时SrBiO3从绝缘态到金属态的特性转变过程，并揭示超导现象背后的机制和先决条件。Fig. 2 Ground state properties of SrBiO...
DFT 第一步是做 scan chain,首先将电路中的普通 DFF 换成 scan DFF: scan DFF 是在原DFF 的输入端增加了一个 MUX,于是多了几个 pin :scan_in,scan_enable,scan_out 换完之后将所有的 scan DFF 首尾依次串接起来,就构成了一条 scan chain : 当SE 信号(即 scan enable )有效时,电路进入scan 状态,此...
电路中正常的Flip-flop(DFF)如图2左边所示,为实现对寄存器的控制,常用的方法是在原寄存器前增加一个MUX,改造后的Flip-flop被称为Scan Flip-flop,即扫描寄存器(SFF),如图2右边所示。当使能信号SE=0时,寄存器输入保持原数据通路,当SE=1时,寄存器输入为SI,此时可以通过机台测试激励直接对该寄存器的值进行控制。
电路中正常的Flip-flop(DFF)如图2左边所示,为实现对寄存器的控制,常用的方法是在原寄存器前增加一个MUX,改造后的Flip-flop被称为Scan Flip-flop,即扫描寄存器(SFF),如图2右边所示。当使能信号SE=0时,寄存器输入保持原数据通路,当SE=1时,寄存器输入为SI,此时可以通过机台测试激励直接对该寄存器的值进行控制。
实际上扫描链的配置主要包括test config 以及 scan config,配置完后综合会将扫描网络电路生成在网表中,一般来说扫描链不止一条。 压缩逻辑就是扫描链的最后一个扫描单元DFF/Q端到Scan out Pin的data path,测试pin要尽可能少,压缩可以到几百倍。 压缩分为空间压缩和时间压缩,时间压缩(MISR)就是增加拍数,进而增...
1、首先是scan insertion(扫描链的插入),在芯片功能设计完成后,即为将整个网表由一堆普通寄存器替换为扫描寄存器的过程,这样新加入的寄存器和原有寄存器一同构成scan chain并参与对芯片的测试; 2、接下来是Test Pattern Generation(测试向量生成过程),测试向量的产生是基于ATPG算法与故障模型以及电路结构生成的,依靠扫描...
将scan DFF的Q端和SI端连接，多个scan DFF就组成了一个scan chain。在实际的芯片设计中，将普通DFF替换成scan DFF并串成scan chain这两步操作都是由工具自动完成。使用扫描链进行测试的目的：进行扫描测试的原因有多种，其中最突出的两个是测试制造设备中的固定故障（stuck-at faults）和测试制造设备中...
DFT里的scan_enable和scan_mode scan_enable 是scan chain的组成部分,连到scan DFF的SE端,由于切换scanchain的shift mode和capture mode。 scan_mode不是scan chain的组成部分,而是控制芯片在正常工作模式和测试模式的切换,通常用于选择clock,reset等信号的来源...