1 EDT EDT (Embedded Deterministic Test ) 嵌入式确定性测试,是一种测试手段,作用是将数量庞大的scan chain通过压缩、解压缩形成数量较少的scan channel并通过scan channel与外部进行交互。通常会产生三部分结构:Decompressor(解压缩器)、Compactor(压缩器)、Bypass(旁路模块)。
EDT (Embedded Deterministic Test )嵌入式确定性测试,是一种测试手段,作用是将数量庞大的scan chain通过压缩、解压缩形成数量较少的scan channel并通过scan channel与外部进行交互。通常会产生三部分结构:Decompressor(解压缩器)、Compactor(压缩器)、Bypass(旁路模块)。 压缩比/解压缩比 压缩比指的是内部scan chains的...
目前常见的三大欧美DFT软件为Mentor的Tessent、Synopsys的TestMax和Cadence的Modus Test Solution. Mentor的Tessent是目前市占率最高的DFT软件,中大规模的芯片大多采用此软件进行DFT设计。Tessent软件包含了Scan、ATPG、MBIST、OCC和EDT等全套点工具。Tessent的EDT压缩技术提供了比传统压缩方法更高的效率和更优的性能,减少了...
DFT是Design For Test的缩写。是指在芯⽚设计过程中引⼊测试逻辑，并利⽤这部分测试逻辑完成测试向量的⾃动⽣产，从⽽达到快速有效的芯⽚测试的⽬的。DFT的⼯作包括 -- 在项⽬初期规划DFT架构；-- 在RTL级别设计测试电路；-- 在验证阶段验证测试电路；-- 在synthesis阶段实现测试逻辑的插⼊；...
2. scan/EDT 对于寄存器以及寄存器之间的组合电路,则发展了扫描链的概念,将逻辑芯片抽象为寄存器逻辑和组合电路逻辑。通过扫描的方式将测试激例打入芯片,然后再以扫描的方式观测测试结果。 3. Mbist 对于片上存储器,常用的测试方法为mbist逻辑的插入。通过mbist pattern产生器,产生特定的数据读/写入特定地址,并将读出...
2. scan/EDT 对于寄存器以及寄存器之间的组合电路,则发展了扫描链的概念,将逻辑芯片抽象为寄存器逻辑和组合电路逻辑。通过扫描的方式将测试激例打入芯片,然后再以扫描的方式观测测试结果。 3. Mbist 对于片上存储器,常用的测试方法为mbist逻辑的插入。通过mbist pattern产生器,产生特定的数据读/写入特定地址,并将读出...
打开Tessent EDT插入功能:首先,我们需要打开Tessent软件,并启用EDT插入功能。 读入扫描网表和库文件:接下来,我们需要读入扫描网表和库文件。这一步非常重要,因为它们是后续步骤的基础。 读入scan chain/时钟等信息:然后,我们需要读入scan chain和时钟等信息。这些信息对于配置EDT模块至关重要。
这里分两种情况,首先如图3所示,当项目规模较小时(寄存器数量小于10万),层级划分较少,整个chip可以整体综合,这种情况可采用EDT逻辑将scan chains连接到EDT上,再通过EDT channel和pad连接,这样可以大幅节省scan测试的时间,这种scan测试架构称为Full chip ATPG(Top-Down)。
Take scan test out of the critical path April 25, 2016 By Ron Press, Mentor Graphics DFT with less risk to your design flow? Here’s how. By Tessent Solutions 4 MIN READ Addressing Moore’s Law with the First Law of Real Estate: Location, location, location December 16, 2015 By Beth...
2. scan/EDT 内部扫描通路测试scan。对于寄存器以及寄存器之间的组合电路,则发展了扫描链的概念,将逻辑芯片抽象为寄存器逻辑和组合电路逻辑。通过扫描的方式将测试激励打入芯片,然后再以扫描的方式观测测试结果。 3. Mbist memory 内建自测试。对于片上存储器,常用的测试方法为mbist逻辑的插入。通过mbist pattern产生器...