EDT (Embedded Deterministic Test)嵌入式确定性测试,是一种测试手段,作用是将数量庞大的scan chain通过压缩、解压缩形成数量较少的scan channel并通过scan channel与外部进行交互。通常会产生三部分结构:Decompressor(解压缩器)、Compactor(压缩器)、Bypass(旁路模块)。 2 压缩比/解压缩比 压缩比指的是内部scan chains...
打开Tessent EDT插入功能:首先,我们需要打开Tessent软件,并启用EDT插入功能。 读入扫描网表和库文件:接下来,我们需要读入扫描网表和库文件。这一步非常重要,因为它们是后续步骤的基础。 读入scan chain/时钟等信息:然后,我们需要读入scan chain和时钟等信息。这些信息对于配置EDT模块至关重要。 配置即将插入的EDT模块:...
DFT方法之一就是在芯片内部建立TAP[2],以及一系列的测试寄存器,即JTAG. 通过JTAG网络增加测试的控制点和观测点,以实现后期的测试。 2. scan/EDT 对于寄存器以及寄存器之间的组合电路,则发展了扫描链的概念,将逻辑芯片抽象为寄存器逻辑和组合电路逻辑。通过扫描的方式将测试激例打入芯片,然后再以扫描的方式观测测试结果。
EDT (Embedded Deterministic Test )嵌入式确定性测试,是一种测试手段,作用是将数量庞大的scan chain通过压缩、解压缩形成数量较少的scan channel并通过scan channel与外部进行交互。通常会产生三部分结构:Decompressor(解压缩器)、Compactor(压缩器)、Bypass(旁路模块)。 压缩比/解压缩比 压缩比指的是内部scan chains的...
2. scan/EDT 对于寄存器以及寄存器之间的组合电路,则发展了扫描链的概念,将逻辑芯片抽象为寄存器逻辑和组合电路逻辑。通过扫描的方式将测试激例打入芯片,然后再以扫描的方式观测测试结果。 3. Mbist 对于片上存储器,常用的测试方法为mbist逻辑的插入。通过mbist pattern产生器,产生特定的数据读/写入特定地址,并将读出...
2. scan/EDT 对于寄存器以及寄存器之间的组合电路,则发展了扫描链的概念,将逻辑芯片抽象为寄存器逻辑和组合电路逻辑。通过扫描的方式将测试激例打入芯片,然后再以扫描的方式观测测试结果。 3. Mbist 对于片上存储器,常用的测试方法为mbist逻辑的插入。通过mbist pattern产生器,产生特定的数据读/写入特定地址,并将读出...
检查EDT逻辑的连接 Flattening Rules FN,FP,FG 检查网表的层次结构是否利于flattening General Rules G* General Rule,最基础的检查项 ICL Extraction/Sematic Rules I*/ICL* ICL文件格式的检查 Procedure Rules P* 检查testprocedure文件的正确性 Core Mapping for ATPG and Scan Pattern Retargeting Rules ...
EDT (Embedded Deterministic Test )嵌入式确定性测试,是一种测试手段,作用是将数量庞大的scan chain通过压缩、解压缩形成数量较少的scan channel并通过scan channel与外部进行交互。通常会产生三部分结构:Decompressor(解压缩器)、Compactor(压缩器)、Bypass(旁路模块)。
Take scan test out of the critical path April 25, 2016 By Ron Press, Mentor Graphics DFT with less risk to your design flow? Here’s how. By Tessent Solutions 4 MIN READ Addressing Moore’s Law with the First Law of Real Estate: Location, location, location December 16, 2015 By Beth...
DFT完备的RTL设计,将会大幅缩减DFT工程师Debug和前端迭代RTL的工作量。 预告 (二)MBISR存储器内建自修复 (三)BSD边界扫描 (四)JTAG与IJTAG规范 (五)Scan逻辑扫描 (六)Transition测试与OCC (七)扫描链压缩技术与EDT (八)ATPG自动测试向量生成 原文作者:和琰...