在可测性设计(DFT)技术中,scan的设计是其中非常重要的的一块内容,今天就来介绍一下业界常用的三种scan cell。 一般来说,一个scan cell有两个不同的可选择的输入。第一个输入为数据输入(data input),也就是电路的组合逻辑的输入端。而第二个输入是扫描输入(scan input),由上一个scan cell的输出驱动的,从而形...
在scan插入后会生成后缀为.def文件,后端工程师通过获取.def文件对scan chain进行Reorder Scan Reorder之前可以看到每个scan cell的连接是繁琐杂乱的,被称为detour,这就需要scan Reorder,在不影响功能逻辑的前提下整理布局布线,得到清晰合理的scan cell连接。 总结 大多数测试生成方案都会将一个被测电路视为一个黑盒子,...
下面我们首先来具体看看实现scan要做些怎样的辅助性设计。其过程包含图C中的scan replacement 及图D中的scan stitching两步,此处以Muxed-D Scan cell 为例。 Scan replacement就是把电路中的normal时序单元(如DFF)替换为一个scan 时序单元(SDFF)。其SE端值为0时,电路工作在正常功能状态并能把D端的值锁存下来;当...
Scan Insertion will select the pin with the smaller fanout to use as the scan_out of the inserted scan cell. 默认设置: 在DFT库中定义了非扫描单元到扫描单元的映射 选项: set_cell_mapping <...….> -output qb set_cell_mapping -new_model <newScanModel> -model <modelName>。 使用以下命令覆...
使用关键字PARTITION来对stub chain归类。有相同PARTITION名的stub chain可以进行重新划分。如: + PARTITION scan_clk_55_55 此外,scandef文件并不需要包含设计中所有的scan cells,只需包含可以reorder或repartition的scan cells。不能优化的scan cell或scan segment被忽略。
首先来介绍一个DFT工程师在日常的工作的工作流程是怎么样的,可以大致分为以下六步骤:1.实现测试功能判断,开销判断,熟悉并测试时钟架构;2.插入BIST自测试电路;3.DFF替换为扫描单元SDFF,并将链串起来,串起来后压缩组合逻辑;4.边界扫描链(用来测试Module),其中包括生成JTAG电路,扫描网络以及接口,生成JTAG TAP Controlle...
Cell-Aware UDFM: special application of UDFM Discussed in-depth in the training module“AdditionalTest Methodologies and Topics". 用户定义的故障模型(UDFM): 用户对卡滞和转换故障的定义扩展 提供了一种指定必须应用的特定激励来确定是否已检测到故障的方法。
下面我们首先来具体看看实现scan要做些怎样的辅助性设计。其过程包含图C中的scan replacement 及图D中的scan stitching两步,此处以Muxed-D Scan cell 为例。 Scan replacement就是把电路中的normal时序单元(如DFF)替换为一个scan 时序单元(SDFF)。其SE端值为0时,电路工作在正常功能状态并能把D端的值锁存下来;当...
Scan Cells:一个scan cell,在一条scan chain中至少包含一个memory element(FF或latch)。 Master Element:直接从上一个scan cell中,得到数据的scan cell,与scan input直接相连接。 Slave Element:在scan chain中的同一个clock的scan cell。 Shadow Element:在scan chain之外的FF或latch。
IC 设计中DFT的Boundary Scan功能 期望频率。 所以,在超大规模集成电路的设计中,DFT就是一门非常重要的方法学,在消费者手中,往往不知道他们的存在,但是在IC工程师眼中,DFT往往会是一个救命的稻草,让我们在芯片出问题的时候,可以知道从哪...到chain上,做一个scan,来检测每个pad是否都可以正常工作。 当pad很多的...