Scan replacement就是把电路中的normal时序单元(如DFF)替换为一个scan时序单元(SDFF)。其SE端值为0时,电路工作在正常功能状态并能把D端的值锁存下来;当SE为1时,电路工作在所谓scan mode并锁存SI的值。 Scan stitching 是把上一步中得到的Scan DFF的Q和SI连接在一起形成scan chain。在芯片的顶层有全局的SE信号...
DFT Scan —— 基础认知 10 个月前 Jump 研究牲关注1.扫描设计(Scan Chain Design) 扫描设计是一种常用的DFT方法,其中所有的触发器(flip-flops)都被连接成一个或多个长的移位寄存器,称为扫描链(scan chain)。通过扫描链,我们可以直接设置和读取硬件的内部状态,从而极大地提高了硬件的可测试性。 2.扫描结构 ...
dft scan原理dft scan原理 DFT Scan原理是将电路中的时序元件触发器替换为相应的可扫描的时序元件扫描触发器(SDFF),然后将上一级扫描触发器的输出端(Q)连接到下一级的数据输入端(SDI),从而形成一个从输入到输出的测试串行移位寄存器,即扫描链(ScanChain)。通过CP端时钟的控制,实现对时序元件和组合逻辑的测试。
Scan Cells:一个scan cell,在一条scan chain中至少包含一个memory element(FF或latch)。 Master Element:直接从上一个scan cell中,得到数据的scan cell,与scan input直接相连接。 Slave Element:在scan chain中的同一个clock的scan cell。 Shadow Element:在scan chain之外的FF或latch。 Copy Element:与上下的scan...
由法国诺曼底大学CRISMAT实验室的Julien Varignon博士研究表明，SCAN泛函足以捕捉在空穴掺杂时SrBiO3从绝缘态到金属态的特性转变过程，并揭示超导现象背后的机制和先决条件。Fig. 2 Ground state properties of SrBiO3.作者通过将第一性原理DFT结果映射到涉及相关晶格畸变的Landau模型上，证明了产生绝缘相的根源是在块体...
在深入了解scan技术之前,我们先来比较下分别针对组合电路和时序电路的测试过程。很显然,在芯片制造出来后,我们只能通过其输入输出端口来对芯片进行各项检测。在如图A所示的组合电路中,假设F处有一短接电源地的固定0故障 (stuck-at 0 fault) 。要检测到这样的物理缺陷,首先要在A端和B端给1的输入激励,这样在F处可以...
DFT中的Scan Chain Flow Scan的工作流程大概分为以下过程: 1、首先是scan insertion(扫描链的插入),在芯片功能设计完成后,即为将整个网表由一堆普通寄存器替换为扫描寄存器的过程,这样新加入的寄存器和原有寄存器一同构成scan chain并参与对芯片的测试;
实际上这种接Latch修hold的方式不仅可以用在DFT SCAN的SDFF中,正常修hold做ECO的时候也有使用。 图1 上图为两个跨时钟域的SDFF的Reg2Reg Path ;下图为Reg1 Latch Reg2的时钟信号的有效沿检查。 从图一的下图不难得出,原本Domain1clock和Domain2clock的Skew比较大,导致launch clklatency加上data path min delay...
现代集成电路的制造工艺越来越先进,但是在生产过程中的制造缺陷也越来越难以控制,甚至一颗小小的 PM2.5 就可能导致芯片报废,为了能有效的检测出生产中出现的废片,需要用到扫描链测试(scan chain),由此产生了可测性设计即 DFT flow。 注意scan test 只能检测出制造瑕疵,无法检测芯片功能瑕疵。
DFT里的scan_enable和scan_mode scan_enable 是scan chain的组成部分,连到scan DFF的SE端,由于切换scanchain的shift mode和capture mode。 scan_mode不是scan chain的组成部分,而是控制芯片在正常工作模式和测试模式的切换,通常用于选择clock,reset等信号的来源...