After scan insertion Scan test 的步骤: 把Scan-En设成0,此时电路工作在正常状态(function mode)下, scan insertion对电路的正常功能没有影响。 把Scan-En设成1,然后把enable clock来驱动寄存器,在Scan-In端输入测试数据,然后在输出端Scan-Out观测,用此种方法便可以测试Flip-Flop. 测试组合逻辑的时候,把Scan-En...
2、SE拉低,电路进入Func模式,SCAN中的测试数据进入func组合逻辑,最终测试数据从PO端输出,以此可以验证是否符合预期;该过程也叫capture; 这张图画的很简单,真实电路比这个复杂多了,但用于理解原理刚刚好! 如何把SCAN做得更好? 为了进一步提高DPPM以及测试效率,发展了很多SCAN技术,比如:Testpoint、SCAN compression、wra...
Scan的工作流程大概分为以下过程: 1、首先是scan insertion(扫描链的插入),在芯片功能设计完成后,即为将整个网表由一堆普通寄存器替换为扫描寄存器的过程,这样新加入的寄存器和原有寄存器一同构成scan chain并参与对芯片的测试; 2、接下来是Test Pattern Generation(测试向量生成过程),测试向量的产生是基于ATPG算法与故...
Scan的工作流程大概分为以下过程: 1、首先是scan insertion(扫描链的插入),在芯片功能设计完成后,即为将整个网表由一堆普通寄存器替换为扫描寄存器的过程,这样新加入的寄存器和原有寄存器一同构成scan chain并参与对芯片的测试; 2、接下来是Test Pattern Generation(测试向量生成过程),测试向量的产生是基于ATPG算法与故...
scan分为stuck-at和at-speed两种测试模式 item clk 说明 对应的DC/AC 既然有At-speed test和DC的两种测试模式,就需要用到 OCC电路,OCC电路可参考: https://blog.csdn.net/cy413026/article/details/84302717 5.scan中的专业术语: Scan Cells:一个scan cell,在一条scan chain中至少包含一个memory element(FF或...
Scan Test 将电路中所有的DFF替换成带测试模式的寄存器SFF,然后将这些寄存器首尾相连成一条链,通过扫描链可以实现对芯片内部的数字逻辑电路的测试,这就是Scan Test。在测试过程中,可以赋予SFF初值,也就是测试激励,然后让电路工作,接着采样寄存器的Q端(捕捉响应),最后将响应通过扫描链输出,再对比响应与预期是否一致,...
Scan Test 将电路中所有的DFF替换成带测试模式的寄存器SFF,然后将这些寄存器首尾相连成一条链,通过扫描链可以实现对芯片内部的数字逻辑电路的测试,这就是Scan Test。在测试过程中,可以赋予SFF初值,也就是测试激励,然后让电路工作,接着采样寄存器的Q端(捕捉响应),最后将响应通过扫描链输出,再对比响应与预期是否一致,...
DFT验证通常会用到两种方法,SCAN(扫描测试)和BIST(build in self test,内建自测)。SCAN主要是用来检测芯片制造过程中经常会出现的失效问题。BIST主要是在芯片内部产生测试码,对测试结果进行分析。 工程师在做DFT验证的时候面临以下显著的挑战: DFT工程师需要依赖TE工程师...
现代集成电路的制造工艺越来越先进,但是在生产过程中的制造缺陷也越来越难以控制,甚至一颗小小的 PM2.5 就可能导致芯片报废,为了能有效的检测出生产中出现的废片,需要用到扫描链测试(scan chain),由此产生了可测性设计即 DFT flow。 注意scan test 只能检测出制造瑕疵,无法检测芯片功能瑕疵。
scan工作流程大概分为5步。 scan insertion test pattern generation test pattern simulation test pattern release silicon bringup and diagnosis test pattern release 及silicon bring-up and diagnosis不在scan 基础的scope之内,将会在后续session中继续深入讨论。