DFT 第一步是做 scan chain,首先将电路中的普通 DFF 换成 scan DFF: scan DFF 是在原DFF 的输入端增加了一个 MUX,于是多了几个 pin :scan_in,scan_enable,scan_out 换完之后将所有的 scan DFF 首尾依次串接起来,就构成了一条 scan chain : 当SE 信号(即 scan enable )有效时,电路进入scan 状态,此...
首先来介绍一个DFT工程师在日常的工作的工作流程是怎么样的,可以大致分为以下六步骤:1.实现测试功能判断,开销判断,熟悉并测试时钟架构;2.插入BIST自测试电路;3.DFF替换为扫描单元SDFF,并将链串起来,串起来后压缩组合逻辑;4.边界扫描链(用来测试Module),其中包括生成JTAG电路,扫描网络以及接口,生成JTAG TAP Controlle...
首先来介绍一个DFT工程师在日常的工作的工作流程是怎么样的,可以大致分为以下六步骤:1.实现测试功能判断,开销判断,熟悉并测试时钟架构;2.插入BIST自测试电路;3.DFF替换为扫描单元SDFF,并将链串起来,串起来后压缩组合逻辑;4.边界扫描链(用来测试Module),其中包括生成JTAG电路,扫描网络以及接口,生成JTAG TAP Controlle...
其实就是替换成带有scan逻辑的DFF,当scan_en有效时,scan逻辑就会从scan-in穿过DFF到达scan-out,多个scan DFF链接在一起就成了scan chain,链上有多少个scan DFF表示这条链的长度。 作为结构性测试(structural test)的主要手段,DFT工程师需要注意的是电路的可测性,也就是可观测点和可控制点。在运用scan 测试方法...
scan DFF是在原DFF 的输入端增加了一个 MUX,于是多了几个 pin :scan_in,scan_enable,scan_out。 换完之后将所有的 scan DFF 首尾依次串接起来,就构成了一条 scan chain : 当SE拉高时,进入Shift阶段,为SI路径,此时CLK toggle三次(若为010),分别由SI pin赋予从左至右三个Reg值为010。之后SE拉低,进入...
1. DFT 入门篇-scan chain combinationl circuit 。 上图所示,首先是 替换然后是连接组成一条scan链完整的scanchain过程: 1。 对于时序电路sequential 部分,选择scanmode... PPO的值然后下一条pattern 剪断了,理就不会乱——Scan Reorder 种设计方法学,由于芯片内部是一个黑盒子,在外部难以控制。测试人员通过DFT...
IC 设计中DFT的Boundary Scan功能 向量通过JTAG接口打入chip,然后驱动chip内部的逻辑,并对chip进行验证。 2. BoundaryScan:DFT书中的定义boundaryscan的方法是将一个模块所有的PAD接口全部串到chain上,做一个scan,来检测每个pad是否都可以正常工作。 当pad很多的chip,往往不会只有一条scanchain,往往chip面积比较大的情...
Scan Chain(扫描链测试)作为数字集成电路测试的重要方法之一,可以有效的筛选出坏片,提高产品质量。不同常规性的从测试,scan test测试触角伸入到芯片的任何角落,测试目标为电路中的标准单元,包括组合及时序逻辑。 扫描链测试可以很简单 作为结构性测试的主要手段(structural test),DFT工程师需要注意的是电路的可测性(...
扫描输入(Scan In, SI); 扫描输出(Scan Out, SO) 但是一般情况下SO和Q复用一个pin,其结构如下图: scan设计的结构如下图所示,将scan DFF的Q端和SI端连接,多个scan DFF就组成了一个scan chain。在实际的芯片设计中,将普通DFF替换成scan DFF并串成scan chain这两步操作都是由工具自动完成。
can chain的基本原理是将设计中所有的触发器连接成一条链,用统一的scan clk驱动,这样可以使用预先设计好的scan pattern用逐bit移入的方法送入芯片中,然后开启capture使能,这样每个触发器的Q端输出会传入他们所驱动的组合电路,scan chain中的下一级出发器D端会捕获这个组合电路的输出,然后capture失效,捕获到的每一级...