把Scan-En设成0,此时电路工作在正常状态(function mode)下, scan insertion对电路的正常功能没有影响。 把Scan-En设成1,然后把enable clock来驱动寄存器,在Scan-In端输入测试数据,然后在输出端Scan-Out观测,用此种方法便可以测试Flip-Flop. 测试组合逻辑的时候,把Scan-En设成1,然后enable clock来驱动寄存器,在Sc...
本次主要介绍Scan Insertion中的DFT专有名词: 1 Scan插入过程 扫描链的插入(Scan insertion),在芯片功能设计完成后,即为将整个网表由一堆普通寄存器替换为扫描寄存器的过程,这样新加入的寄存器和原有寄存器一同构成scan chain并参与对芯片的测试;扫描插入的流程分为四个步骤:扫描配置、扫描替换、扫描缝合和扫描链的插入。
本次主要介绍Scan Insertion中的DFT专有名词: Scan插入过程 扫描链的插入(Scan insertion),在芯片功能设计完成后,即为将整个网表由一堆普通寄存器替换为扫描寄存器的过程,这样新加入的寄存器和原有寄存器一同构成scan chain并参与对芯片的测试;扫描插入的流程分为四个步骤:扫描配置、扫描替换、扫描缝合和扫描链的插入...
DFT中的Scan Chain Flow Scan的工作流程大概分为以下过程: 1、首先是scan insertion(扫描链的插入),在芯片功能设计完成后,即为将整个网表由一堆普通寄存器替换为扫描寄存器的过程,这样新加入的寄存器和原有寄存器一同构成scan chain并参与对芯片的测试; 2、接下来是Test Pattern Generation(测试向量生成过程),测试向量...
DFT中的Scan Chain Flow Scan的工作流程大概分为以下过程: 1、首先是scan insertion(扫描链的插入),在芯片功能设计完成后,即为将整个网表由一堆普通寄存器替换为扫描寄存器的过程,这样新加入的寄存器和原有寄存器一同构成scan chain并参与对芯片的测试;
本次主要介绍Scan Insertion中的DFT专有名词: Scan插入过程 扫描链的插入(Scan insertion),在芯片功能设计完成后,即为将整个网表由一堆普通寄存器替换为扫描寄存器的过程,这样新加入的寄存器和原有寄存器一同构成scan chain并参与对芯片的测试;扫描插入的流程分为四个步骤:扫描配置、扫描替换、扫描缝合和扫描链的插入。
把Scan-En设成0,此时电路工作在正常状态(function mode)下, scan insertion对电路的正常功能没有影响。 把Scan-En设成1,然后把enable clock来驱动寄存器,在Scan-In端输入测试数据,然后在输出端Scan-Out观测,用此种方法便可以测试Flip-Flop. 测试组合逻辑的时候,把Scan-En设成1,然后enable clock来驱动寄存器,在Sc...
把Scan-En设成0，此时电路工作在正常状态（function mode)下, scan insertion对电路的正常功能没有影响...
1.把Scan-En设成0,此时电路工作在正常状态(function mode)下, scan insertion对电路的正常功能没有影响。 2.把Scan-En设成1,然后把enable clock来驱动寄存器,在Scan-In端输入测试数据,然后在输出端Scan-Out观测,用此种方法便可以测试Flip-Flop. 3.测试组合逻辑的时候,把Scan-En设成1,然后enable clock来驱动寄...
Insertion of dedicated and shared wrapper cells for core-based Pattern volume reduction Tessent ScanPro includes the VersaPoint test point technology that directly targets ATPG pattern volume reduction of 2X to 4X in addition to increasing logic BIST test coverage. Smart automation Integrated into the ...