Scan作为DFT最为核心的技术,是每个DFT工程师,测试工程师,甚至是前端设计工程师都必须要理解的一个概念。 除了测试核心电路,还有一种scan是测试外围电路, IO pad的,我们称之为boundary scan(BSCAN),会在下一章节介绍。 推荐一本DFT相关书籍:
Scan Cells:一个scan cell,在一条scan chain中至少包含一个memory element(FF或latch)。 Master Element:直接从上一个scan cell中,得到数据的scan cell,与scan input直接相连接。 Slave Element:在scan chain中的同一个clock的scan cell。 Shadow Element:在scan chain之外的FF或latch。 Copy Element:与上下的scan...
在scan插入后会生成后缀为.def文件,后端工程师通过获取.def文件对scan chain进行Reorder Scan Reorder之前可以看到每个scan cell的连接是繁琐杂乱的,被称为detour,这就需要scan Reorder,在不影响功能逻辑的前提下整理布局布线,得到清晰合理的scan cell连接。 总结 大多数测试生成方案都会将一个被测电路视为一个黑盒子,...
scan chain是由一个个的scan cell首尾相接串起来的,scan cell和普通的DFF不同,相当于在原有的基础上多增加了一个MUX。当SC_EN(scan_enable)使能时,数据由SC_IN(scan_in)端进入,此时进入扫描测试模式;当SC_EN(scan_enable)不使能时,数据由D端进入,和原有功能一致。 也就是说,扫描测试技术在不影响电路原...
Sr1-xKxBiO3和Ba1-xKxBiO3是理想的化合物，可用于测试第一性原理模拟技术，它们表现出氧化物的复杂性，并且是采用钙钛矿结构的氧化物超导体之一。Fig. 1 Structural distortions displayed by SrBiO3 and BaBiO3 in the P21/n ground state phase.由法国诺曼底大学CRISMAT实验室的Julien Varignon博士研究表明，SCA...
因此,这项研究(i)验证了使用SCAN-DFT研究复杂氧化物超导体中的掺杂效应;(ii)要求检查超导镍酸盐和其他氧化物超导体中的歧化效应,以确定铋酸盐中已确定的机制是否也与这些新发现的氧化物超导体相关。该文近期发表于npj Computational Materials 9: 30 (2022)。
本来芯片制造出来后,我们只能利用其有限的输入输出信号来对芯片进行测试,现在通过实现scan这种辅助性设计,把电路中的时序单元转变为可控制及可观测的输入输出信号,从而实现了从difficult-to-test的时序电路到easy-to-test的组合电路的问题转换。而可控制及可观测信号的增加,也更能达成高品质的测试结果。
电路中正常的Flip-flop(DFF)如图2左边所示,为实现对寄存器的控制,常用的方法是在原寄存器前增加一个MUX,改造后的Flip-flop被称为Scan Flip-flop,即扫描寄存器(SFF),如图2右边所示。当使能信号SE=0时,寄存器输入保持原数据通路,当SE=1时,寄存器输入为SI,此时可以通过机台测试激励直接对该寄存器的值进行控制。
DFT scan chain 介绍 现代集成电路的制造工艺越来越先进,但是在生产过程中的制造缺陷也越来越难以控制,甚至一颗小小的 PM2.5 就可能导致芯片报废,为了能有效的检测出生产中出现的废片,需要用到扫描链测试(scan chain),由此产生了可测性设计即 DFT flow。