1 Scan插入过程 扫描链的插入(Scan insertion),在芯片功能设计完成后,即为将整个网表由一堆普通寄存器替换为扫描寄存器的过程,这样新加入的寄存器和原有寄存器一同构成scan chain并参与对芯片的测试;扫描插入的流程分为四个步骤:扫描配置、扫描替换、扫描缝合和扫描链的插入。 2 扫描配置 扫描配置(Configure scan sett...
本次主要介绍Scan Insertion中的DFT专有名词: Scan插入过程 扫描链的插入(Scan insertion),在芯片功能设计完成后,即为将整个网表由一堆普通寄存器替换为扫描寄存器的过程,这样新加入的寄存器和原有寄存器一同构成scan chain并参与对芯片的测试;扫描插入的流程分为四个步骤:扫描配置、扫描替换、扫描缝合和扫描链的插入...
本次主要介绍Scan Insertion中的DFT专有名词: Scan插入过程 扫描链的插入(Scan insertion),在芯片功能设计完成后,即为将整个网表由一堆普通寄存器替换为扫描寄存器的过程,这样新加入的寄存器和原有寄存器一同构成scan chain并参与对芯片的测试;扫描插入的流程分为四个步骤:扫描配置、扫描替换、扫描缝合和扫描链的插入。
After scan insertion Scan test 的步骤: 把Scan-En设成0,此时电路工作在正常状态(function mode)下, scan insertion对电路的正常功能没有影响。 把Scan-En设成1,然后把enable clock来驱动寄存器,在Scan-In端输入测试数据,然后在输出端Scan-Out观测,用此种方法便可以测试Flip-Flop. 测试组合逻辑的时候,把Scan-En...
1、首先是scan insertion(扫描链的插入),在芯片功能设计完成后,即为将整个网表由一堆普通寄存器替换为扫描寄存器的过程,这样新加入的寄存器和原有寄存器一同构成scan chain并参与对芯片的测试; 2、接下来是Test Pattern Generation(测试向量生成过程),测试向量的产生是基于ATPG算法与故障模型以及电路结构生成的,依靠扫描...
1、首先是scan insertion(扫描链的插入),在芯片功能设计完成后,即为将整个网表由一堆普通寄存器替换为扫描寄存器的过程,这样新加入的寄存器和原有寄存器一同构成scan chain并参与对芯片的测试; 2、接下来是Test Pattern Generation(测试向量生成过程),测试向量的产生是基于ATPG算法与故障模型以及电路结构生成的,依靠扫描...
解决方案是在分频寄存器的复位端加入一个MUX,dft_mode=1时,转接到芯片顶层的时钟管理模块的FUNC_RESET复位信号上,原有复位信号此时将接到芯片的SCAN RESET上,在MBIST模式下保持为0。 案例3——Clock Deglitch Clock Deglitch结构用于消除时钟选择路径上的毛刺,在功能模式下,选择逻辑输出的两个使能信号是保证互斥,并且...
解决方案是在分频寄存器的复位端加入一个MUX,dft_mode=1时,转接到芯片顶层的时钟管理模块的FUNC_RESET复位信号上,原有复位信号此时将接到芯片的SCAN RESET上,在MBIST模式下保持为0。 案例3——Clock Deglitch Clock Deglitch结构用于消除时钟选择路径上的毛刺,在功能模式下,选择逻辑输出的两个使能信号是保证互斥,并且...
1、参与制定完整的SoC芯片和 Block level DFT 方案; 2、完成 DFT 电路设计/insertion,包括Scan、Mbist、 Bscan; 新码坊 计算机软件0-20人 资深DFT工程师40-70K·16薪 上海浦东新区张江5-10年硕士 职位描述 1. 掌握芯片级DFT架构定义和DFT计划制定; 2. 完成芯片的DFT设计实现,包括:ScanInertion,MBISTInertion...
2、完成DFT相关工作,包括:SCAN Insertion,ATPG,MBIST Insertion,Boundary SCAN与Function Test; 3、DFT Pattern生成与调试; 4、支持产品量产,协助解决DFT pattern在量产测试过程中遇到的问题; 5、DFT Flow优化。 职位要求: 1、熟悉基于Mentor/Synopsys 的DFT 流程,熟练使用主流的EDA工具; ...