Single-capture是一种slow-speed test的技术,只需要一个capture pulse.测试intra-clock-domain和inter-clock-domain的structural faults. 两种approaches来进行test. 1) One-Hot Single-Capture 在一个capture window下只需要一个capture pulse,所以不用担心不同clock domain之间的clock skew,但是这种方式只能test intra-...
At-Speed_Test_FastScan_TestKompress 下载积分: 700 内容提示: At-Speed Test - FastScanand TestKompressTSMC Reference Flow Release 6.0 文档格式:PDF | 页数:10 | 浏览次数:93 | 上传日期:2012-04-18 16:51:57 | 文档星级: At-Speed Test - FastScanand TestKompressTSMC Reference Flow Release ...
At-speed测试时钟可以通过两种方法提供:第一种直接从管脚输入,由外部的自动测试仪(AutomaticTestEquipment,ATE)提供;第二种由片内产生,比如PLL提供。如果采用从外部ATE产生高速测试时钟的方法,则对ATE的要求比较高,需要高速的ATE,相应的测试成本和电路封装的成本会显著增加,特别是在电路运行频率达GHz的情况下,这种影响...
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Faster-Than-At-Speed TestInterconnect defects such as weak resistive opens, shorts and bridges increase the path delay affected by a pattern during manufacturing test but not significant enough to cause a failure at functionadoi:10.1007/978-1-4419-8297-1_9Mohammad Tehranipoor...
Keywords:At—speedtest;OCC;testclockgeneration;; 1 引 言 当集成电路进人到深亚微米阶段,设计有更高 的频率和集成度,但同时也引入了许多和timing相 关的故障,一家领先的fabless设计公司已经发表的 文章证实当他们的设计从0.18p,m迁移到0.131~m 时,与timing相关的故障增加了20倍。另一家领先 ...
Test 1022 2019-12-09 17:37 −#T1 AERODROM (二分答案 **TimeLimit: 1000MS Memory Limit: 32768KB** $N$个登机口,办理登机业务,第$i$个窗口的单位办理时间为$T_i$,$M$个人办理登机业务,他们可以选择最佳的方案,不考虑换人和换窗口的时间,所有窗口是同时计时的,即同时... ...
1) at-speed test 全速测试 1. It is necessary to adopt delay default models and implement at-speed test for the faults caused by circuit propagation delay. 当工艺进入到超深亚微米以下,传统的故障模型不再适用,必须对电路传输延迟引发的故障采用延迟故障模型进行全速测试。 2) full speed 全速 3) ...
United States Patent US11808810 Note: If you have problems viewing the PDF, please make sure you have the latest version ofAdobe Acrobat. Back to full text
At-speed test using on-chip controller 优质文献 相似文献 参考文献 引证文献At-speed on-chip diagnosis of board-level interconnect faults This article describes a novel approach to fault diagnosis suitable for at-speed testing of board-level interconnect faults. This approach is based on a ne......