必应词典为您提供at-speed-test的释义,网络释义: 全速度测试;全速测试;实速测试;
Single-capture是一种slow-speed test的技术,只需要一个capture pulse.测试intra-clock-domain和inter-clock-domain的structural faults. 两种approaches来进行test. 1) One-Hot Single-Capture 在一个capture window下只需要一个capture pulse,所以不用担心不同clock domain之间的clock skew,但是这种方式只能test intra-...
Delay故障是一个很直观的概念,它是指在芯片某区域的过度延迟导致其不能在一个系统时钟周期内完成数据的传递。 Transition delay模型是模拟CUT(circuit under test)中某一node上的过度延迟,该延迟大到令所有经过其的时序路径都不能在系统时钟周期内完成数据的传递。在具体实现中,定义中的node通常是指gate的输入输出信号。
Delay故障是一个很直观的概念,它是指在芯片某区域的过度延迟导致其不能在一个系统时钟周期内完成数据的传递。 Transition delay模型是模拟CUT(circuit under test)中某一node上的过度延迟,该延迟大到令所有经过其的时序路径都不能在系统时钟周期内完成数据的传递。在具体实现中,定义中的node通常是指gate的输入输出信号。
1.at speed test structure and OCC Controller 2.OCC Controller 当使用set_dft_configuration -clock_controller enable运行insert_dft DFT编译器会将DFT_clk_mux和DFT_clk_chain组件添加到网表中。 2.1OCC Controller的结构 ①fast pulse controller ②clock selection circuit ...
在正常工作模式(Test—mode=0)下要输出Func_clk。在at—speed模式下受scan_enable控制输出Scan-clk和launch、capture两个脉冲。此时只要把示意图中的testmode信号分解为at.._speedjestmode和stuck-at-testmode两种模式,用来选中所需的scan_clk和Atspeed clk即可。
在正常工作模式(Test—mode=0)下要输出Func_clk。在at—speed模式下受scan_enable控制输出Scan-clk和launch、capture两个脉冲。此时只要把示意图中的testmode信号分解为at.._speedjestmode和stuck-at-testmode两种模式,用来选中所需的scan_clk和Atspeed clk即可。
1) at-speed test 全速测试 1. It is necessary to adopt delay default models and implementat-speed testfor the faults caused by circuit propagation delay. 当工艺进入到超深亚微米以下,传统的故障模型不再适用,必须对电路传输延迟引发的故障采用延迟故障模型进行全速测试。
1) at-speed test 实速测试1. At-speed test has been widely used in industry. 实速测试在工业界中得到日益广泛的使用,对芯片进行实速测试可以有效检测出时序相关的故障。2) experiment test 实验测试 1. This article introduces the methods, the existent problems andthe suggestions on the experiment ...