ICS 31.080.1 L 40 中华人民共和国国家标准 GB/T 4937.13-XXXX/IEC60749-13 :2002 代替 GB/T 4937-1995 半导体器件 机械和气候试验方法 第 13 部分:盐雾 Semiconductor devices—Mechanical and climatic tests methods— Part 13: Salt atmosphere (IEC 60749-13:2002,IDT) (报批稿) (本稿完成日期:2014-12...
ICS31.080.1L40中华人民共和国国家标准GB/T4937.13-XXXX/IEC60749-13:00代替GB/T4937-1995半导体器件机械和气候试验方法第13部分:盐雾Semiconductordevices—Mechanicalandclimatictestsmethods—Part13:SaltatmosphereIEC60749-13:00IDT(报批稿)(本稿完成日期:014-1-1
《 》 : 半导体器件 机械和气候试验方法 由以下部分组成 GBT4937 ——— : ; 第 部分 总则 1 ——— : ; 第 部分 低气压 2 ——— : ; 第 部分 外部目检 3 ——— : ( ); 第 部分 强加速稳态湿热试验 4 HAST ——— : ; 第 部分 稳态温湿度偏置寿命试验 5 ——— : ; 第 部分 高温...
机械和气候试验方法 第3部分:外部目检 GB/T 4937.19-2018 半导体器件机械和气候试验方法第19部分∶芯片剪切强度 GB/T 4937.12-2018 半导体器件机械和气候试验方法第12部分∶扫频振动 GB/T 4937.22-2018 半导体器件机械和气候试验方法第22部分∶键合强度 GB/T 4937.23-2023 半导体器件 机械和气候试验方法 第23部分:...
内容简介:GB/T4937的本部分规定了半导体器件的盐雾试验方法,以确定半导体器件耐腐蚀的能力。本试验是模拟严酷的海边大气对器件暴露表面影响的加速试验。适用于工作在海上和沿海地区的器件。 1 范围 GB/T4937的本部分规定了半导体器件的盐雾试验方法,以确定半导体器件耐腐蚀的能力。本试验是模拟严酷的海边大气对器件暴露...
半导体器件 机械和气候试验方法 第13部分:盐雾 Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 13: Salt atmosphere GBT4937.13-2018, GB4937.13-2018 说明: 此图仅显示与当前标准最近的5级引用; 鼠标放置在图上可以看到标题编号; 此图可以通过鼠标滚轮放大或者缩小; ...
标准号:DIN EN 60749-13-2003 中文标准名称:半导体器件.机械和气候试验方法.第13部分: 盐雾 英文标准名称:Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 13: Salt atmosphere (IEC 60749-13:2002); German version EN 60749-13:2002 ...
《 》 : 半导体器件 机械和气候试验方法 由以下部分组成 GBT4937 ——— : ; 第 部分 总则 1 ——— : ; 第 部分 低气压 2 ——— : ; 第 部分 外部目检 3 ——— : ( ); 第 部分 强加速稳态湿热试验 4 HAST ——— : ; 第 部分 稳态温湿度偏置寿命试验 5 ——— : ; 第 部分 高温...
ICS 31.080.1 L 40 中华人民共和国国家标准 GB/T 4937.13-XXXX/IEC60749-13 :2002 代替 GB/T 4937-1995 半导体器件 机械和气候试验方法 第 13 部分:盐雾 Semiconductor devices—Mechanical and climatic tests methods— Part 13: Salt atmosphere (IEC 60749-13:2002,IDT) (报批稿) (本稿完成日期:2014-12...