一、闩锁效应:芯片的“自爆开关” 一句话说人话:CMOS芯片里藏了个“隐形炸弹”,一旦触发,轻则罢工,重则烧成废铁。这玩意儿就是闩锁效应(Latch Up),江湖人称“芯片杀手”。 为啥要怕它?因为它能瞬间让芯片从高富帅变成穷屌丝。比如你手机突然黑屏、电脑莫名死机,背后可能就有这货在搞鬼。更狠的是,它和静电防护(ESD)是“孪生
闩锁测试实际是通过电流脉冲激励于非电源（输入、输出、输入/输出等）管脚或者施加过电压脉冲于电源管脚来评估芯片抗闩锁效应的能力，即过电压测试V-test及过流测试I-test。电源过电压测试V-test 所有输出管脚置于悬空状态，输入、输入/输出管脚置于逻辑高电平，预置管脚置于固定状态。量测每个电源管脚电流。待测电源管脚...
芯片latchup测试 沙尘暴 努力赚钱的攻城狮 13 人赞同了该文章 EETOP 创芯网论坛 (原名:电子顶级开发网) -,侵权请联系删除 二.Latch-up测试流程。目前通用的Latch-up测试标准是JESD78E。该标准中将Latch-up测试分为两种:1.电流测试 I-test,用于测试非电源管脚;2.电压测试 V-test 用于测试电源管脚。其中I-test...
技术干货|芯片Latch up(闩锁)测试 闩锁效应是指在CMOS集成电路中寄生的PNP和NPN双极型晶体管相互影响而产生的一种低阻抗通路,从而产生大电流。由于正反馈作用,该状态会被持续维持(即“闩锁”),从而导致集成电路失效,严重时可能造成器件烧毁。 示意图 Latch up标准及测试方法 常见测试标准 JESD78与AEC-Q100-004 测试...
Latch-up是指芯片在工作时由于某些原因导致出现异常电流,这种异常电流可能对芯片造成严重损坏。芯片上电时序Latch-up大电流成为了一个重要的研究课题。 二、芯片上电时序Latch-up大电流的原因 1.器件自身结构缺陷 芯片中的器件可能存在结构缺陷,比如P-N结区域不良、金属引线焊点不良等,这些缺陷会导致芯片在上电时出现...
导读:本文介绍了芯片Latch up(闩锁)检测标准与方法。 闩锁效应是指在CMOS集成电路中寄生的PNP和NPN双极型晶体管相互影响而产生的一种低阻抗通路,从而产生大电流。由于正反馈作用,该状态会被持续维持(即“闩锁”),从而导致集成电路失效,严重时可能造成器件烧毁。
技术干货|芯片Latch up(闩锁)测试2025-05-07 11:10:00 60 闩锁效应是指在CMOS集成电路中寄生的PNP和NPN双极型晶体管相互影响而产生的一种低阻抗通路,从而产生大电流。由于正反馈作用,该状态会被持续维持(即“闩锁”),从而导致集成电路失效,严重时可能造成器件烧毁。 示意图 等效电路 Latch up标准及测试方法 ...
Latch-up现象是由于CMOS结构中寄生双极晶体管形成的PNPN结构导通引发的大电流现象;预防措施包括使用保护环、增加衬底接触。Antenna effect是因金属面积过大导致栅极电荷积累击穿,预防措施包括跳层布线、限制金属面积比例。 Latch-up由寄生SCR结构导通引起,通过保护环和衬底接触降低寄生效应;Antenna效应由金属面积过大导致电荷...
闩锁效应,latch up,是个非常重要的问题。现在的芯片设计都不可避免的要考虑它。我今天就简单地梳理一下LUP的一些问题。 啥是所谓的latch up呢?一句话总结起来很简单:CMOS中形成了两个BJT,基极和集电极接在了一起,形成正反馈回路,电流大到一定程度可能会使芯片失效甚至烧坏芯片。这两个BJT其实就是一个npnp的结构...
首先，消费级IC芯片的LatchUp测试主要依据标准JESD78进行测试，当然，会有专门的仪器设备进行测试，通常IC芯片出来之后，会委托第三方实验室进行LatchUp测试，（第三方实验室可以出一个测试报告，这样客户的认可度会比较高，而且设备仪器不用购买以及维护）。那么详细的测试条件和测试步骤分别是什么呢？首先，是环境温度，...